Научно-исследовательская лаборатория «Исследование изделий нано- и микросистемной техники» (НИЛ ИИ)
Форма заявки на оказание услуг
Прайс для внешних пользователей
Порядок предоставления услуг, порядок расчета стоимости нетиповых услуг, общая стоимость и регламент доступа к оборудованию оговаривается индивидуально. Адрес для заявок: m.makhiboroda@gmail.com
Перечень услуг
Услуга |
Наименование |
Измерение размеров |
Измерение линейных размеров Измерение толщин тонких пленок |
Элементный состав |
Определение профиля примеси Построение карт распределения элементов по поверхности Построения 3D изображений распределения химических элементов Химический анализ Изотопный анализ |
Исследование поверхности |
Растровая электронная микроскопия Сканирующая атомно-силовая микроскопия Оптическая микроскопия Лазерная конфокальная микроскопия |
Модификация поверхности |
Прецизионное травление фокусированным ионным пучком Механическая модификация поверхности Электрическая модификация поверхности Наноманипулирование |
Приготовление образцов |
Приготовление образцов для исследования поперечного среза образцов и элементного анализа. Приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии методом фокусированного ионного пучка Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии методом механического и ионного утонения |
Определение оптических характеристик |
Определение показателей преломления и поглощения пленок |
Редактирование металлической разводки на готовых микросхемах |
Создание контактных площадок произвольной формы Соединение и разрезание разводки, создание нового слоя разводки |
Электрофизические измерения |
Измерение поверхностного сопротивления |
Температурные исследования |
Исследование поведения образца при различных температурах |
Тепловые исследования |
Исследование тепловых полей |
Магнитные измерения |
Изучение распределения вектора намагниченности |
Токовые измерения |
Измерение токов растекания |
Спектроскопия |
Силовая спектроскопия Токовая спектроскопия |
Электросиловая микроскопия |
Получение карты распределения электрического потенциала по поверхности образца |
Исследование статистических параметров поверхности |
Исследование статистических параметров поверхности |
Исследование органических объектов |
Биологические исследования |
Исследование областей с различными коэффициентами трения на поверхности |
Метод латеральных сил |