Научно-исследовательская лаборатория «Исследование изделий нано- и микросистемной техники» (НИЛ ИИ)

Начальник: к.ф.-м.н. Демин Глеб Дмитриевич
Телефон:(499) 720-69-07

Бланк типового договора

Форма заявки на оказание услуг

Прайс для МИЭТа

Прайс для внешних пользователей

Порядок предоставления услуг, порядок расчета стоимости нетиповых услуг, общая стоимость и регламент доступа к оборудованию оговаривается индивидуально. Адрес для заявок: m.makhiboroda@gmail.com


Перечень услуг

Услуга

Наименование

Измерение размеров

Измерение линейных размеров

Измерение толщин тонких пленок

Элементный состав

Определение профиля примеси

Построение карт распределения элементов по поверхности

Построения 3D изображений распределения химических элементов

Химический анализ

Изотопный анализ

Исследование поверхности

Растровая электронная микроскопия

Сканирующая атомно-силовая микроскопия

Оптическая микроскопия

Лазерная конфокальная микроскопия

Модификация поверхности

Прецизионное травление фокусированным ионным пучком

Механическая модификация поверхности

Электрическая модификация поверхности

Наноманипулирование

Приготовление образцов

Приготовление образцов для исследования поперечного среза образцов и элементного анализа.

Приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии методом фокусированного ионного пучка

Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии методом механического и ионного утонения

Определение оптических характеристик

Определение показателей преломления и поглощения пленок

Редактирование металлической разводки на готовых микросхемах

Создание контактных площадок произвольной формы

Соединение и разрезание разводки, создание нового слоя разводки

Электрофизические измерения

Измерение поверхностного сопротивления

Температурные исследования

Исследование поведения образца при различных температурах

Тепловые исследования

Исследование тепловых полей

Магнитные измерения

Изучение распределения вектора намагниченности

Токовые измерения

Измерение токов растекания

Спектроскопия

Силовая спектроскопия

Токовая спектроскопия

Электросиловая микроскопия

Получение карты распределения электрического потенциала по поверхности образца

Исследование статистических параметров поверхности

Исследование статистических параметров поверхности

Исследование органических объектов

Биологические исследования

Исследование областей с различными коэффициентами трения на поверхности

Метод латеральных сил