Научно-исследовательская лаборатория «Исследование изделий нано- и микросистемной техники» (НИЛ ИИ)
Форма заявки на оказание услуг
Прайс для внешних пользователей
Порядок предоставления услуг, порядок расчета стоимости нетиповых услуг, общая стоимость и регламент доступа к оборудованию оговаривается индивидуально. Адрес для заявок: m.makhiboroda@gmail.com
Перечень услуг
|
Услуга |
Наименование |
|
Измерение размеров |
Измерение линейных размеров Измерение толщин тонких пленок |
|
Элементный состав |
Определение профиля примеси Построение карт распределения элементов по поверхности Построения 3D изображений распределения химических элементов Химический анализ Изотопный анализ |
|
Исследование поверхности |
Растровая электронная микроскопия Сканирующая атомно-силовая микроскопия Оптическая микроскопия Лазерная конфокальная микроскопия |
|
Модификация поверхности |
Прецизионное травление фокусированным ионным пучком Механическая модификация поверхности Электрическая модификация поверхности Наноманипулирование |
|
Приготовление образцов |
Приготовление образцов для исследования поперечного среза образцов и элементного анализа. Приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии методом фокусированного ионного пучка Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии методом механического и ионного утонения |
|
Определение оптических характеристик |
Определение показателей преломления и поглощения пленок |
|
Редактирование металлической разводки на готовых микросхемах |
Создание контактных площадок произвольной формы Соединение и разрезание разводки, создание нового слоя разводки |
|
Электрофизические измерения |
Измерение поверхностного сопротивления |
|
Температурные исследования |
Исследование поведения образца при различных температурах |
|
Тепловые исследования |
Исследование тепловых полей |
|
Магнитные измерения |
Изучение распределения вектора намагниченности |
|
Токовые измерения |
Измерение токов растекания |
|
Спектроскопия |
Силовая спектроскопия Токовая спектроскопия |
|
Электросиловая микроскопия |
Получение карты распределения электрического потенциала по поверхности образца |
|
Исследование статистических параметров поверхности |
Исследование статистических параметров поверхности |
|
Исследование органических объектов |
Биологические исследования |
|
Исследование областей с различными коэффициентами трения на поверхности |
Метод латеральных сил |