Научно-технологический центр «Нано- и микросистемной техники» (НТЦ НМСТ)
Наименование |
Страна |
Фирма-изготовитель |
Марка |
Год |
Высоковакуумная низкотемпературная система для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ
|
Российская Федерация |
ТД «Научное Оборудование» |
PlasmoScope-2M |
2015 |
Дифрактометр многофункциональный |
Япония |
Rigaku |
SmartLab |
2014 |
Система по изучению магнитооптического эффекта Керра
|
Япония |
Neoark |
BH-PI7892-KI |
2014 |
Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр
|
Германия |
IonTOF |
TOF SIMS 5-100 |
2012 |
Профилометр |
Соединённые Штаты Америки |
KLA-Tencor |
Alpha-Step D120 |
2012 |
Установка для ионного травления и полировки |
Соединённые Штаты Америки |
Fischione Instruments |
Model 1060 SEM Mill |
2012 |
Оже-микрозонд
|
Соединённые Штаты Америки |
Physical Electronics |
PHI-670xi |
2012 |
Установка измерения поверхностного сопротивления |
Соединённые Штаты Америки |
Lucas Labs |
QuadPRO |
2010 |
Лазерный конфокальный микроскоп
|
Япония |
Lasertech |
VL 2000 DХ |
2008 |
Установка для акустических исследований объемных структур |
Германия |
KSI Sonic Industries GmbH |
KSI v-350lm |
2012 |
Полуавтоматическая зондовая установка |
Соединённые Штаты Америки |
Cascade Microtech |
Summit 12K |
2011 |
Микроскоп сканирующий
|
Соединённые Штаты Америки |
KLA-Tencor |
INM100 |
2007 |
Зондовая установка для анализа пластин и подложек до 150 мм |
Соединённые Штаты Америки |
Cascade Microtech |
PM5 Probe System |
2010 |
Система для управления пучком и прецизионной засветки фоторезиста на поверхности полупроводниковых подложек для растрового электронного микроскопа |
Германия |
Xenos |
XeDraw 2 |
2011 |
Термический столик для проведения экспериментов при пониженных и повышенных температурах для растрового электронного микроскопа |
Великобритания |
Deben |
MK3 COOLSTAGE |
2011 |
Энергодисперсионный спектрометр
|
Великобритания |
Oxford Instruments |
INCA Energy 350 X-Max20 |
2011 |
Растровый электронный микроскоп
|
Япония |
JEOL
|
JSM-6490LV |
2008 |
Спектральный эллипсометр
|
Франция |
HORIBA Jobin Ivon |
AutoSe System |
2009 |
Атомно-силовой микроскоп
|
Россия |
AIST-NT |
SmartSPM |
2009 |
Технологический комплекс групповой сборки кристаллов и соединения пластин
|
Германия |
Suss Microtech |
Substrate bonder SB6 |
2007 |
Технологический комплекс напыления тонких пленок металлов |
Соединённые Штаты Америки |
SEGI |
SEGI-RFA3-4TR |
2008 |
Технологический комплекс плазменного, реактивно-ионного травления кремния и обработки материалов |
Соединённые Штаты Америки |
STS |
STS |
2008 |
Технологический комплекс пиролитических процессов и плазмостимулированного осаждения материалов
|
Чехия |
SVCS |
SVFUR-LH4 |
2007 |
Технологический комплекс термических процессов (диффузия и окисление)
|
Чехия |
SVCS |
SVFUR-AH4 |
2007 |
Технологический комплекс фотолитографии и оптического контроля
|
Австрия |
EVG |
EVG 150 |
2007 |
Технологический комплекс жидкостного травления и химической обработки кремния
|
Чехия |
SCR |
Mercury style |
2007 |