Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии (НИЛ ЭМИ)
Публикации
2023 г.
Статьи:Публикации ЛЭМИ 2023
1. Zallo, E., Pianetti, A., Prikhodko, A. S., Cecchi, S., Zaytseva, Y. S., Giuliani, A., Kremser, M., Borgardt, N. I., Finley, J. J., Arciprete, F., Palummo, M., Pulci, O., Calarco, R. Two-dimensional single crystal monoclinic gallium telluride on silicon substrate via transformation of epitaxial hexagonal phase // npj 2D Materials and Applications. – 2023. – V. 7. – №. 1. – P. 19.
https://www.nature.com/articles/s41699-023-00390-4
DOI: 10.1038/s41699-023-00390-4
2. Ben Saddik, K., Fernández-Garrido, S., Volkov, R., Grandal, J., Borgardt, N., García, B. J. Growth modes and chemical-phase separation in GaP1− xNx layers grown by chemical beam epitaxy on GaP/Si (001) // Journal of Applied Physics. – 2023. – V. 134. – №. 17.
https://pubs.aip.org/aip/jap/article/134/17/175703/2919533
DOI: 10.1063/5.0173748
3. Shtern, M., Sherchenkov, A., Shtern, Y., Borgardt, N., Rogachev, M., Yakubov, A., Babich, A., Pepelyaev, D., Voloshcuk, I., Zaytseva, Yu., Pereverzeva, S., Gerasimenko, A., Potapov, D., Murashko, D. Mechanical properties and thermal stability of nanostructured thermoelectric materials on the basis of PbTe and GeTe //Journal of Alloys and Compounds. – 2023. – V. 946. – P. 169364
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0925838823006679
DOI:10.1016/j.jallcom.2023.169364
4. Sherchenkov, A., Borgardt, N., Shtern, M., Zaytseva, Y., Shtern, Y., Rogachev, M. Sazonov, V., Yakubov, A., Pepelyaev, D. The role of nanostructuring strategies in PbTe on enhancing thermoelectric efficiency // Materials Today Energy. – 2023. – V. 37. – P. 101416.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2468606923001727
DOI: 10.1016/j.mtener.2023.101416
5. Румянцев, А.В., Боргардт, Н.И., Волков, Р.Л. Моделирование распыления многослойных подложек фокусированным ионным пучком // Письма в Журнал Технической Физики. – 2023. – Т. 49. – №. 10. – С. 39-42
https://journals.ioffe.ru/articles/55433
DOI: 10.21883/PJTF.2023.10.55433.19533
Перевод.
Rumyantsev A. V., Borgardt N. I., Volkov R. L. Simulation of focused ion beam milling of multilayer substrates // Technical Physics Letters . – 2023. – V. 49. – №. 5. – P. 77-80
https://journals.ioffe.ru/articles/56035
DOI: 10.21883/TPL.2023.05.56035.19533
6. Волков, Р. Л., Боргардт, Н. И. Идентификация структуры наноразмерных слоев многослойных гетерокомпозиций методами просвечивающей электронной микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2023. – Т. 28. – №. 6. – С. 711-726.
Перевод.
Volkov, R. L., Borgardt, N. I. Identification of the Structure of Nanoscale Layers of Multilayer Heterocomposites using Transmission Electron Microscopy // Semiconductors. – 2023. – V. 57. – №. 1. – P. 1-10.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782623010098
DOI: 10.1134/S1063782623010098
7. Подорожний, О. В., Румянцев, А. В., Волков, Р. Л., Боргардт, Н. И. Моделирование процессов распыления материала и имплантации галлия при воздействии фокусированного ионного пучка на кремниевую подложку // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2023. – Т. 28. – №. 5. – С. 555-568.
Перевод.
Podorozhniy, O. V., Rumyantsev, A. V., Volkov, R. L., Borgardt, N. I. (2023). Simulation of Material Sputtering and Gallium Implantation during Focused Ion Beam Irradiation of a Silicon Substrate // Semiconductors. – 2023. – V. 57. – №. 1. – P. 58-64.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782623010086
DOI: 10.1134/S1063782623010086
8. Новак, А. В., Соколов, А. М., Румянцев, А. В., Новак, В. Р. (2023). Исследование зависимости формы кремниевых игл от концентрации раствора KOH при жидкостном анизотропном травлении. // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2023. – V. 28. – №. 3. – P. 287-297.
Перевод.
Novak, A. V., Sokolov, A. M., Rumyantsev, A. V., Novak, V. R. Investigation of the Dependence of the Silicon Needle Shape on the KOH Solution Concentration during Anisotropic Wet Etching. // Semiconductors. – 2023. – V. 57. – №. 1. – P. 52-57.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782623010074
DOI: 10.1134/S1063782623010074
9. Новак, А. В., Румянцев, А. В. Особенности технологии изготовления кремниевых кантилеверов для атомносиловой микроскопии на основе анизотропного жидкостного травления // Наноиндустрия. – 2023. – Т. 16. – №. 119. – С. 331-334.
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=53742324
DOI: 10.22184/1993-8578.2023.16.9s.331.334
10. Киреев, Г. С., Боргардт, Н. И. Модификация метода морфологических водоразделов для сегментации РЭМ-изображений наночастиц PbTe // Микроэлектроника и информатика-2023. – 2023. – С. 137-145.
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54605397
Конференции:
1. XXVI Международная конференция «Взаимодействие ионов с поверхностью», Ярославль, 2023 – 2 доклада.
2. 30-я Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика – 2023», Зеленоград, 2023 – 2 доклада.
3. Вторая объединённая конференция «Электронно-лучевые технологии и рентгеновская оптика в микроэлектронике», Черноголовка, 2023 – 8 докладов.
Магистерские диссертации:
1. Аннушкин Д. Е. Влияние насыщенных паров гидроксида аммония на наноразмерные пленки алюминия и золота // M. MИЭТ. 2023.
Выпускные бакалаврские работы:
1. Корнеев В.А. Автоматизированное измерение геометрических параметров наноообразований на поверхности тонкой эпитаксиальной пленки Ge-Sb-Te, выращенной на кремниевой подложке. // M. MИЭТ. 2023.
2. Киреев Г.С. Определение геометрических параметров нанообъектов с применением статистического анализа изображений растровой электронной микроскопии. // M. MИЭТ. 2023.
3. Плюснин Р.А. Определение глубины залегания асимметричного p-n-перехода методом РЭМ. // M. MИЭТ. 2023.
2022 г.
Статьи:
Публикации ЛЭМИ 2022
1. Volkov, R. L., Borgardt, N. I., Konovalov, O. V., Fernández-Garrido, S., Brandt, O., Kaganer, V. M. Cross-sectional shape evolution of GaN nanowires during molecular beam epitaxy growth on Si (111) // Nanoscale Advances. – 2022. – V. 4. – №. 2. – P. 562-572.
https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2022/NA/D1NA00773D
DOI: 10.1039/D1NA00773D
2. Rumyantsev, A. V., Borgardt, N. I., Volkov, R. L., Chaplygin, Y. A. Study of silicon dioxide focused ion beam sputtering using electron microscopy imaging and level set simulation // Vacuum. – 2022. – V. 202. – P. 111128.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0042207X22002561
DOI: 10.1016/j.vacuum.2022.111128
3. Румянцев, А. В., Подорожний, О. В., Волков, Р. Л., Боргардт, Н. И. Моделирование процесса распыления карбида кремния фокусированным пучком ионов галлия // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2022. – Т. 27. – №. 4. – С. 463-474.
Перевод.
Rumyantsev, A. V., Podorozhniy, O. V., Volkov, R. L., Borgardt, N. I. Simulation of Silicon Carbide Sputtering by a Focused Gallium Ion Beam //Semiconductors. – 2022. – V. 56. – №. 13. – P. 487-492.
https://link.springer.com/article/10.1134/s1063782622130085
DOI: 10.1134/S1063782622130085
4. Lebedev, E. A., Gavrilin, I. M., Kudryashova, Y. O., Martynova, I. K., Volkov, R. L., Kulova, T. L., Skundin, A.M., Borgardt, N.I., Gavrilov, S. A. Effect of Vinylene Carbonate Electrolyte Additive on the Process of Insertion/Extraction of Na into Ge Microrods Formed by Electrodeposition // Batteries. – 2022. – V. 8. – №. 9. – P. 109.
https://www.mdpi.com/2313-0105/8/9/109
DOI: 10.3390/batteries8090109
5. Savchuk, T., Gavrilin, I., Konstantinova, E., Dronov, A., Volkov, R., Borgardt, N., Maniecki T., Gavrilov, S., Zaitsev, V. Anodic TiO2 nanotube arrays for photocatalytic CO2 conversion: Comparative photocatalysis and EPR study // Nanotechnology. – 2021. – V. 33. – №. 5. – P. 055706.
6. Antonets I., Golubev Y., Shcheglov V., Prikhodko A., Borgardt N. Estimation of local conductivity of disordered carbon in a natural carbon-mineral composite using a model of intragranular currents // Journal of Physics and Chemistry of Solids. – Vol. 171. – 2022. – P. 110994.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022369722004115?via%3Dihub
DOI: 10.1016/j.jpcs.2022.110994
7. Сазонов В. А., Боргардт Н. И., Кукин В. Н., Казаков И. П. Характеризация зернистой структуры эпитаксиального слоя низкотемпературного GaAs на подложке Si(100) методами электронной микроскопии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2022. –№. 7. – стр. 57-64.
Перевод
Sazonov, V. A., Borgardt, N. I., Kukin, V. N., Kazakov, I. P. Electron-Microscopy Study of the Grain Structure of a Low-Temperature GaAs Epitaxial Layer Grown on Si (100) Substrate //Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2022. – Т. 16. – №. 4. – С. 490-496.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451022040164
DOI: 10.1134/S1027451022040164
Конференции:
1. XXIX Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, 2022 – 6 докладов.
2. 25-я Всероссийская молодежная научная конференция «Актуальные проблемы физической и функциональной электроники», Ульяновск, 2022 – 1 доклад.
Магистерские диссертации:
Подорожний О. В. Закономерности распыления диоксида и карбида кремния под воздействием фокусированного пучка ионов галлия // M. MИЭТ. 2022.
2021 г.
Статьи:
Публикации ЛЭМИ 2021
1. Rumyantsev, A. V., Borgardt, N. I., Prikhodko, A. S., Chaplygin, Y. A. Characterizing interface structure between crystalline and ion bombarded silicon by transmission electron microscopy and molecular dynamics simulations //Applied Surface Science. – 2021. – Vol. 540. – P. 148278.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S016943322033035X
10.1016/j.apsusc.2020.148278
2. Zallo, E., Dragoni, D., Zaytseva, Y., Cecchi, S., Borgardt, N. I., Bernasconi, M., Calarco, R. Evolution of Low‐Frequency Vibrational Modes in Ultrathin GeSbTe Films //physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. – 2020. – P. 2000434.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/pssr.202000434
DOI: 10.1002/pssr.202000434
3. Gavrilin, I. M., Kudryashova, Y. O., Kuz'mina, A. A., Kulova, T. L., Skundin, A. M., Emets, V. V., R. L. Volkov, Dronov A. A., Borgardt N. I., Gavrilov, S. A. High-rate and low-temperature performance of germanium nanowires anode for lithium-ion batteries //Journal of Electroanalytical Chemistry. – 2021. – Vol. 888. – P. 115209.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1572665721002356
DOI: 10.1016/j.jelechem.2021.115209
4. Зайцева Ю.С., Боргардт Н.И., Приходько А.С., Zallo E., Calarco R. Электронно-микроскопические исследования поверхностных образований в эпитаксиальном слое Ge3Sb2Te6, выращенном на кремниевой подложке // Кристаллография. – 2021. – Т. 66, № 4. – С. 650-657.
Перевод.
Zaytseva Yu.S., Borgardt N.I., Prikxodko A.S., Zallo E., Calarco R. Electron microscopy study of surface islands in epitaxial Ge3Sb2Te6 layer grown on a silicon substrate // Crystallography Reports. - 2021. - Vol. 66, № 4. - P. 687-693.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063774521030317
DOI: 10.1134/S1063774521030317
5. Зайцева Ю.С., Боргардт Н.И., Приходько А.С., Zallo E., Calarco R. Электронно-микроскопические исследования структуры тонких эпитаксиальных слоев Ge2Sb2Te5, выращенных на подложке Si(111) // Известия вузов. Электроника. - 2021. - Т. 26, № 3-4. - С. 214-225.
Перевод.
Zaytseva, Y. S., Borgardt, N. I., Prikhodko, A. S., Zallo, E., Calarco, R. Electron-Microscopy Studies of the Structure of Thin Epitaxial Ge2Sb2Te5 Layers Grown on Si (111) Substrates //Semiconductors. – 2021. – С. 1-6.
https://link.springer.com/article/10.1134/S106378262113011X
DOI: 10.1134/S106378262113011X
6. Новак, А. В., Новак, В. Р., Смирнов, Д. И., Румянцев, А. В. Особенности морфологии и структуры тонких пленок кремния //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2021. – №. 2. – С. 60-66.
Перевод.
Novak, A. V., Novak, V. R., Smirnov, D. I., & Rumyantsev, A. V. Features of the Morphology and Structure of Thin Silicon Films //Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2021. – Т. 15. – №. 1. – С. 152-157.
7. Новак А. В., Новак В. Р., Румянцев А. В. Особенности процесса изготовления кремниевых игл для кантилеверов //Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2021. – Т. 26. – №. 3-4. – С. 234-245.
Конференции:
1. Объединенная конференция «Электронно-лучевые технологии и рентгеновская оптика в микроэлектронике», Черноголовка, 2021 – 6 докладов.
2. XXV Международная конференция Взаимодействие ионов с поверхностью «ВИП-2021», Москва, 2021 – 2 доклада.
3. Compound semiconductor week 2021, 2021 – 1 доклад.
4. Всероссийская научно-практическая конференция «Всероссийские молодежные научные чтения имени академика А. Д. Сахарова», 2021, Петрозаводск – 1 доклад.
Магистерские диссертации:
Лугинина В. Г. Применение методов фокусированного ионного пучка и растровой электронной микроскопии для определения шероховатости боковых стенок микроструктур, сформированных в кремниевой подложке» // M. MИЭТ. 2021.
Потапов А. Д. Определение геометрических характеристик нанопроволок нитрида галлия методами растровой электронной микроскопии // M. MИЭТ. 2021.
Кандидатские диссертации:
Зайцева Ю.С. Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии // M. MИЭТ. 2021.
2020 г.
Статьи:
Публикации ЛЭМИ 2020
1. Volkov, R. L., Kukin, V. N., Kots, P. A., Ivanova, I. I., Borgardt, N. I. Complex pore structure of mesoporous zeolites: unambiguous TEM imaging using platinum tracking //ChemPhysChem. – 2020. – Т. 21. – №. 4. – С. 275-279.
https://chemistry-europe.onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/cphc.201901208
DOI: 10.1002/cphc.201901208
2. Heilmann, M., Prikhodko, A. S., Hanke, M., Sabelfeld, A., Borgardt, N. I., Lopes, J. M. J. Influence of Proximity to Supporting Substrate on van der Waals Epitaxy of Atomically Thin Graphene/Hexagonal Boron Nitride Heterostructures //ACS Applied Materials & Interfaces. – 2020. – Vol. 12. – №. 7. – P. 8897-8907.
https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acsami.9b21490
DOI: 10.1021/acsami.9b21490
3. Zaytseva, Y., Lazarenko, P., Vorobyov, Y., Yakubov, A., Borgardt, N., Kozyukhin, S., Sherchenkov, A. Structure of Ge2Sb2Te5 thin films near the inflection point of the resistivity temperature dependence // Chalcogenide Letters. – 2020. – Vol. 17, – №. 2. – P. 41-47.
https://www.chalcogen.ro/41_ZaytsevaY.pdf
4. Румянцев А. В., Приходько А. С., Боргардт Н. И. Исследование аморфизации кремния ионами галлия на основе сопоставления расчетных и экспериментальных электронно-микроскопических изображений //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2020. – №. 9. – С. 103-108.
Перевод.
Rumyantsev, A.V., Prikhodko, A.S., Borgardt, N.I. Study of Gallium-Ion-Induced Silicon Amorphization by Matching Experimental and Simulated Electron-Microscopy Images // Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2020. – Vol. 14. – №. 5. – P. 956-960.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451020050171
DOI: 10.1134/S1027451020050171
5. Gavrilin, I., Dronov, A., Volkov, R., Savchuk, T., Dronova, D., Borgardt, N., Pavlikov A., Gavrilov S., Gromov, D. Differences in the local structure and composition of anodic TiO2 nanotubes annealed in vacuum and air //Applied Surface Science. – 2020. – P. 146120.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S016943322030876X
DOI: 10.1016/j.apsusc.2020.146120
6. Pavlikov, A. V., Forsh, P. A., Kashkarov, P. K., Gavrilov, S. A., Dronov, A. A., Gavrilin, I. M., Volkov R. L., Borgardt N. I., Bokova‐Sirosh S. N., Obraztsova, E. D. Investigation of the Stokes to anti‐Stokes ratio for germanium nanowires obtained by electrochemical deposition //Journal of Raman Spectroscopy. – 2020. – Vol. 51. – №. 4. – P. 596-601.
https://analyticalsciencejournals.onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/jrs.5834
DOI: 10.1002/jrs.5834
7. Lazarenko, P., Kozyukhin, S., Sherchenkov, A., Yakubov, A., Zaytseva, Y., Dronova, D., Boytsova O., Chigirinsky Yu., Zabolotskaya A., Kozik, V. Effect of bismuth ion implantation on the crystallization temperature of the amorphous Ge2Sb2Te5 thin films //Journal of Physics: Conference Series. – IOP Publishing, 2020. – Vol. 1611, – №. 1. – P. 012044.
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1611/1/012044/meta
DOI: 10.1088/1742-6596/1611/1/012044
8. Kozyukhin, S., Smayev, M., Sigaev, V., Vorobyov, Y., Zaytseva, Y., Sherchenkov, A., Lazarenko, P. Specific Features of Formation of Laser‐Induced Periodic Surface Structures on Ge2Sb2Te5 Amorphous Thin Films under Illumination by Femtosecond Laser Pulses //physica status solidi (b). – 2020. – Vol. 257, – №. 11. – P. 1900617.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/pssb.201900617
DOI: 10.1002/pssb.201900617
9. Казаков И.П., Зиновьев С.А., Клековкин А.В., Сазонов В.А., Кукин В.Н., Боргардт Н.И. Разворот слоёв GaAs в гетероструктурах GaAs/Ge/GaAs // Краткие сообщения по физике ФИАН. – 2020. – Том. 47, №. 12. – С. 3–10.
Перевод.
Kazakov I. P., Zinov'ev S. A., Klekovkin A. V., Sazonov V. A., Kukin V. N., Borgardt N. I. Extended Defects in GaAs/Ge/GaAs Heterostructures with Turning GaAs Layers // Bulletin of the Lebedev Physics Institute – 2020. – Vol. 47, No. 12. – P. 365–370.
https://link.springer.com/article/10.3103/S106833562012012X
DOI: 10.3103/S106833562012012X
10. Абдуллаев Д. А., Милованов Р. А., Волков Р. Л., Боргардт Н. И., Ланцев А. Н., Воротилов К. А., Сигов А. С. Сегнетоэлектрическая память: современное производство и исследования //Российский технологический журнал. – 2020. – Т. 8. – №. 5. – С. 44-67
https://www.rtj-mirea.ru/jour/article/view/249
DOI: 10.32362/2500-316X-2020-8-5-44-67
Конференции:
1. XXVII Российская конференция по электронной микроскопии «Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарных методов исследованиях наноструктур и наноматериалов», Черноголовка, 2020 – 8 докладов.
2. 27-я Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика – 2020», Зеленоград, 2020 – 2 доклада.
3. 63-я Всероссийская научная конференция МФТИ, Долгопрудный, 2020 – 1 доклад.
4. Ломоносовские чтения. Актуальные вопросы фундаментальных и прикладных исследований, Петрозаводск, 2020 – 1 доклад.
2019 г.
Статьи:
1. Гришина, Я. С., Боргардт, Н. И., Волков, Р. Л., Громов, Д. Г., Савицкий, А. И. Электронно-микроскопические исследования наночастиц серебра, полученных вакуумно-термическим испарением // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2018. – Т. 23. – №. 6. – С. 543-556.
Перевод:
Grishina, Y. S., Borgardt, N. I., Volkov, R. L., Gromov, D. G., Savitskiy, A. I. (2019). Electron Microscopy Study of Silver Nanoparticles Obtained by Thermal Evaporation. // Semiconductors. – 2019. – Vol. 53. – №. 15. – P. 1986-1991.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782619150089
DOI: 10.1134/S1063782619150089
2. Зыбина, Ю. С., Боргардт, Н. И., Лазаренко, П. И., Парсегова, В. С., Приходько, А. С., Шерченков, А. А. Электронно-микроскопические исследования влияния отжига на тонкие пленки Ge–Sb–Te, полученные методом вакуумно-термического испарения // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2019. – №. 10. – С. 82-87.
Перевод.
Sybina, Y. S., Borgardt, N. I., Lazarenko, P. I., Parsegova, V. S., Prikhodko, A. S., Sherchenkov, A. A. Electron Microscopic Study of the Influence of Annealing on Ge–Sb–Te Thin Films Obtained by Vacuum Thermal Evaporation //Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2019. – Vol. 13. – №. 5. – P. 962-966.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451019050380
DOI: 10.1134/S1027451019050380
3. Kozyukhin S., Lazarenko P., Vorobyov Y., Baranchikov A., Glukhenkaya V., Smayev M., Sherchenkov A., Sybina Y., Polohin A., Sigaev V. Laser-induced modification and formation of periodic surface structures (ripples) of amorphous GST225 phase change materials // Optics & Laser Technology. – 2019. – Vol. 113. – P. 87-94.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0030399218313434
DOI: 10.1016/j.optlastec.2018.12.017
4. Лазаренко П. И., Воробьев Ю. В., Федянина М. Е., Шерченков А. А., Козюхин С. А., Якубов А. О., Кукин А. В., Зыбина Ю. С., Сагунова И. В. Особенности определения оптической ширины запрещенной зоны тонких пленок материалов фазовой памяти. // Перспективные материалы. – 2019. – №. 10. – С. 14-25
Перевод.
Lazarenko, P. I., Vorobyov, Y. V., Fedyanina, M. E., Sherchenkov, A. A., Kozyukhin, S. A., Yakubov, A. O., Kukin A.V., Sybina Yu. S., Sagunova, I. V. Peculiarities of estimating the optical band gap of thin films of phase change memory materials // Inorganic Materials: Applied Research. – 2020. – Vol. 11. – №. 2. – P. 330-337.
https://link.springer.com/article/10.1134/S2075113320020227
DOI: 10.1134/S2075113320020227
5. Sherchenkov, A., Kozyukhin, S., Babich, A., Lazarenko, P., Kalugin, V., Timoshenkov, S., Borgardt N., Sybina, Y. Crystallization mechanism and kinetic parameters in Ge2Sb2Te5 thin films for the phase change memory application //Chalcogenide Letters. – 2018. – Vol. 15. – №. 1. – P. 45-54.
https://chalcogen.ro/45_SherchenkovA.pdf
Конференции:
1. Конференция с международным участием «Электронно-лучевые технологии» КЭЛТ-2019, Москва, 2019 – 6 докладов.
2. XXIV Международная конференция Взаимодействие ионов с поверхностью «ВИП-2019», Москва, 2019 – 1 доклад.
3. 26-я Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика – 2019», Зеленоград, 2019 – 1 доклад.
4. 9th International Conference on Amorphous and Nanostructured Chalcogenides, Chisinau, Republic of Moldova, 2019 – 2 доклада.
5. 13-я Международная конференция «Взаимодействие излучений с твердым телом», Минск, 2019 – 1 доклад.
6. Compound Semiconductor Week 2019, Nara, Japan, 2019 – 1 доклад.2018 г.
Статьи:
1. Sherchenkov A., Kozyukhin S., Borgardt N., Babich A., Lazarenko P., Sybina Y., Tolepov Zh., Prikhodko O. Multiple thermal cycling and phase transitions in Ge-Sb-Te materials // Journal of Non-Crystalline Solids. – 2018. – Vol. 501. – P. 101-105.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309317306774
DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2017.12.023
2. Rumyantsev A. V., Borgardt N. I. Prediction of surface topography due to finite pixel spacing in focused ion beam milling of circular holes and trenches // Journal of Vacuum Science & Technology B. – 2018. – Vol. 36. – №. 6. – P. 061802.
https://avs.scitation.org/doi/abs/10.1116/1.5047107
DOI: 10.1116/1.5047107
3. Gavrilov S. A., Dronov A. A., Gavrilin I. M., Volkov R. L., Borgardt N. I., Trifonov A. Y., Pavlikov A.V., Forsh F.A., Kashkarov P. K. Laser crystallization of germanium nanowires fabricated by electrochemical deposition // Journal of Raman Spectroscopy. – 2018. – Vol. 49. – №. 5. – P. 810-816.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/jrs.5353
DOI: 10.1002/jrs.5353
4. Borgardt N. I., Rumyantsev A. V., Volkov R. L., Chaplygin Y. A. Sputtering of redeposited material in focused ion beam silicon processing // Materials Research Express. – 2018. – Vol. 5. – №. 2. – P. 025905.
http://iopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1591/aaace1/meta
DOI: 10.1088/2053-1591/aaace1
5. Sherchenkov A., Kozyukhin S., Babich A., Lazarenko P., Kalugin V., Timoshenkov S., Borgardt N., Sybina Y. Crystallization mechanism and kinetic parameters in Ge2Sb2Te5 thin films for the phase change memory application // Chalcogenide Letters. – 2018. – Vol. 15. – №. 1. – P. 45-54.
http://www.chalcogen.ro/45_SherchenkovA.pdf
6. Румянцев А. В., Боргардт Н. И., Волков Р. Л. Моделирование распыления вторично осажденного кремния при воздействии фокусированным ионным пучком // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2018. – №. 6. – С. 102-107.
Перевод.
Rumyantsev A. V., Borgardt N. I., Volkov R. L. Simulation of Redeposited Silicon Sputtering under Focused Ion Beam Irradiation // Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2018. – Т. 12. – №. 3. – С. 607-612.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451018030345
DOI: 10.1134/S1027451018030345
7. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Громов Д.Г., Дубков С.В. Электронографический анализ структуры углеродных наностолбиков вдоль направления их роста // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2018. – №. 5. – С. 63-70.
Перевод.
Volkov R. L., Borgardt N. I., Gromov D. G., Dubkov S. V. Electron Diffraction Analysis of the Structure of Carbon Nanopillars along the Growth Direction // Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2018. – Т. 12. – №. 3. – С. 473-479.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451018030199
DOI: 10.1134/S1027451018030199
8. Тихонов Р.Д., Поломошнов С.А., Амеличев В.В., Николаева Н.Н., Горелов Д.В., Казаков Ю.В., Зыбина Ю.С., Клинчикова Н.П. Исследование химических процессов приготовления хлоридного электролита для электроосаждения пленок пермаллоя // Нано- и микросистемная техника. – 2018. – Т. 20, № 1. – С. 26-39.
https://elibrary.ru/item.asp?id=32328104
DOI: 10.17587/nmst.20.26-39
9. Румянцев А.В. Применение метода функций уровня для моделирования формирования рельефа поверхности при распылении материала фокусированным ионным пучком // Микроэлектроника и информатика - 2018 Материалы научно-технической конференции. Сборник статей. – 2018. – С. 188-193.
10. Зыбина Ю.С. Электронно-микроскопические исследования структурных изменений в плёнках Ge2Sb2Te5, полученных методом магнетронного распыления // Микроэлектроника и информатика - 2018 Материалы научно-технической конференции. Сборник статей. – 2018. – С. 84-89.
Конференции:
1. XXVII конференция «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нано-биоматериалов», Черноголовка, 2018 – 10 докладов.
2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2018», Зеленоград, 2018 – 4 доклада.
3. X всероссийская школа-семинар студентов, аспирантов и молодых ученых
по направлению «Диагностика наноматериалов и наноструктур», Рязань, 2018 – 1 доклад.
4. VIII Всероссийская цеолитная конференция "Цеолиты и мезопористые материалы: достижения и перспективы", Москва, 2018 – 1 доклад.
5. Международная конференция «Аморфные и микрокристаллические полупроводники», 2018 – 4 доклада.
Магистерские диссертации:
Дубров А.Ю. Исследование смыкания нанопроволок GaN под воздействием пучка электронов // M. MИЭТ. 2018.
Чемаров Г.В. Структура материалов, формирующихся при воздействии фокусированного ионного пучка на монокристаллический кремний // M. MИЭТ. 2018.
Кандидатские диссертации:
Румянцев А.В. Моделирование формирования микро- и наноструктур при распылении материала фокусированным ионным пучком // M. MИЭТ. 2018.
2017 г.
Статьи:
1. Гришина, Я. С., Боргардт, Н. И., Волков, Р. Л., Громов, Д. Г., Дубков, С. В. Электронно-микроскопические исследования кристаллитов в углеродных наностолбиках, выращенных методом плазмостимулированного химического осаждения //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2017. – №. 2. – С. 51-59.
Перевод:
Grishina, Y. S., Borgardt, N. I., Volkov, R. L., Gromov, D. G., Dubkov, S. V. Electron microscopy studies of crystallites in carbon nanopillars grown by low-temperature plasma-enhanced chemical-vapor deposition //Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2017. – Vol. 11. – №. 1. – P. 226-233.
https://link.springer.com/article/10.1134/S102745101701027X
DOI: 10.1134/S102745101701027X
2. Гаврилин, И. М., Громов, Д. Г., Дронов, А. А., Дубков, С. В., Волков, Р. Л., Трифонов, А. Ю., Боргардт Н.И., Гаврилов, С. А. Влияние температуры электролита на процесс катодного осаждения нитевидных наноструктур Ge из водных растворов на частицах In и Sn //Физика и техника полупроводников. – 2017. – Т. 51. – №. 8. – С. 1110-1115.
Перевод:
Gavrilin, I. M., Gromov, D. G., Dronov, A. A., Dubkov, S. V., Volkov, R. L., Trifonov, A. Y., Borgardt N.I., Gavrilov, S. A. Effect of electrolyte temperature on the cathodic deposition of Ge nanowires on in and Sn particles in aqueous solutions // Semiconductors. – 2017. – Vol. 51. – №. 8. – P. 1067-1071.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782617080115
DOI: 10.1134/S1063782617080115
3. Sherchenkov, A. A., Lazarenko, P. I., Sybina, Y. S., Prikhodko, A. S., Yakubov, A. O. Correlation between the structural transformations and physical properties in Ge 2 Sb 2 Te 5 thin films //Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus), 2017 IEEE Conference of Russian. – IEEE, 2017. – P. 1197-1200.
https://ieeexplore.ieee.org/document/7910775/
DOI: 10.1109/EIConRus.2017.7910775
4. Gromov, D., Dubkov, S., Savitskiy, A., Grishina, Y., Rubtsov, V. Investigation of Ag nanoparticles fusion process by subsequent vacuum thermal evaporation // Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus), 2017 IEEE Conference of Russian. – IEEE, 2017. – P. 1156-1159.
https://ieeexplore.ieee.org/document/7910763
DOI: 10.1109/EIConRus.2017.7910763
Конференции:
1. 2-й Международный форум «Техноюнити – Электронно-лучевые технологии для микроэлектроники», Зеленоград, 2017 – 5 докладов.
2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2017», Зеленоград, 2017 – 3 доклада.
3. 23-я Международная конференция «Взаимодействие ионов с поверхностью», Москва, 2017 – 1 доклад.
4. IX всероссийская школа-семинар студентов, аспирантов и молодых ученых
по направлению «Диагностика наноматериалов и наноструктур», Рязань, 2017 – 1 доклад.
Кандидатские диссертации:
Приходько А.C. Исследование атомарного строения пиролитических углеродных материалов методами высокоразрешающей электронной микроскопии и молекулярной динамики. M. MИЭТ. 2017.
2016 г.
Статьи:
1. Kashammer P., Borgardt N.I., Seibt M., Sinno T. Quantitative assessment of molecular dynamics-grown amorphous silicon and germanium films on silicon (111) // Surface Science. – 2016. – Vol. 651 – P. 100–104.http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602816300796
DOI:10.1016/j.susc.2016.04.002
2. Borgardt N. I., Rumyantsev A. V. Prediction of surface topography due to finite pixel spacing in FIB milling of rectangular boxes and trenches // Journal of Vacuum Science & Technology B. – 2016. – Vol. 34. – №. 6. – P. 061803. http://avs.scitation.org/doi/abs/10.1116/1.4967249?journalCode=jvb
DOI: 10.1116/1.4967249
3. Golubev Y. A., Isaenko S.I., Prikhodko A.S., Borgardt N.I., Suvorova E.I. Raman spectroscopic study of natural nanostructured carbon materials: shungite vs. anthraxolite // European Journal of Mineralogy. – 2016. – P. ejm2537_pap_gsw.
http://eurjmin.geoscienceworld.org/content/early/2016/04/10/ejm.2016.0028-2537.abstract
DOI:10.1127/ejm/2016/0028-2537
4. Боргардт Н.И., Приходько А.С., Зайбт М. Влияние атомарной структуры базисных плоскостей на межплоскостное расстояние в пиролитических углеродных материалах // Письма в ЖТФ. – 2016. – Т 42. –№. 23. – С. 1–8.
Перевод.
Borgardt, N. I., Prihodko A. S., Seibt M. The influence of the atomic structure of basal planes on interplanar distance in pyrolytic carbon materials // Technical Physics Letters – 2016. – Vol. 42. – №. 12. – P. 1137-1140.
https://link.springer.com/article/10.1134/S106378501612004X
DOI: 10.1134/S106378501612004X
5. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Гуртовой В.Л., Ильин А.И., Карабулин А.В., Матюшенко В.И., Ходос И.И., Гордон Е.Б. Мобильная микроячейка для измерения электрических характеристик индивидуальных нанотрубок и нанопроволок // Приборы и техника эксперимента. – 2016. – Т. 59. – №. 6. – С. 77-86.
Перевод.
Volkov R.L., Borgardt N.I., Gurtovoi V.L., Il'in A.I., Karabulin A.V., Matyushenko V.I., Khodos I.I., Gordon E.B. A mobile microcell for measuring the electrical characteristics of individual nanowires and nanotubes //Instruments and Experimental Techniques. – 2016. – V. 59. – №. 6. – P. 848-856.
http://link.springer.com/article/10.1134/S0020441216060105
doi:10.1134/S0020441216060105
6. Богданова Н.А., Зыбина Ю.С., Шпакова Е.С. Использование сингулярного разложения матриц для сжатия электронно-микроскопических изображений // Экономические и социально-гуманитарные исследования – 2016. – T. 10, – № 2. – C. 9-12.
Конференции:
1. XXVI Российская конференция по электронной микроскопии, Зеленоград, 2016 – 8 докладов.
2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2016», Зеленоград, 2016 – 2 доклада.
3. 8-й Международный научный семинар и 6-я Международная молодежная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики», Великий Новгород, 2016 – 1 доклад.
4. Первый российский кристаллографический конгресс, Москва, 2016 – 1 доклад.
Докторские диссертации:
Кукин В.Н. Электронная микроскопия наноразмерных структур в пироуглеродных и полупроводниковых материалах. Диссертация на соискание степени доктора физико-математических наук. M. MИЭТ. 2016.
Выпускные бакалаврские работы:
Дубров А.Ю. Исследование воздействия фокусированного ионного пучка на пленки металлов // M. MИЭТ. 2016.
Чемаров Г.В. Исследование влияния воздействия фокусированного ионного пучка на структуру кристаллов // M. MИЭТ. 2016.
2015 г.
Статьи:
1. Prikhodko A.S., Borgardt N I. Seibt M. Turbostratic pyrocarbon structure study by means of exit wave reconstruction from high-resolution transmission electron microscopy // Physica Status Solidi C. – 2015. – V. 12. – № 8, – P. 1179-1182.
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssc.201400363/abstract
DOI: 10.1002/pssc.201400363
2. Lovygin M.V., Borgardt N I. Kazakov I P, Seibt M. Structural studies of Al thin layer on misoriented GaAs(100) substrate by transmission electron microscopy // Physica Status Solidi C. – 2015. – V. 12. – №. 6, – P. 1148-1151.
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssc.201400357/abstract
DOI: 10.1002/pssc.201400357
3. Gromov D.G., Lebedev E.A., Savitskiy A.I., Trifonov A.Yu., Rubcov V.V., Borgardt N.I., Grishina Ya.S. Investigation of condensation of small portions of Ag at thermal evaporation in vacuum //Journal of Physics: Conference Series. – IOP Publishing, 2015. – VOL. 643. – №. 1. – P. 012014.
http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/643/1/012014/meta
DOI:10.1088/1742-6596/643/1/012014
4. Ловыгин М.В., Боргардт Н.И., Зайбт М., Казаков И.П., Цикунов А.В. Исследование структуры тонкого слоя алюминия на вицинальной поверхности подложки арсенида галлия методом высокоразрешающей электронной микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника. –2015. – Т. 20. – № 1. –С. 10-16.
Перевод.
Lovygin M.V., Borgardt N.I., Seibt M., Kazakov I.P., Tsikunov A.V. Study of the structure of a thin aluminum layer on the vicinal surface of a gallium arsenide substrate by high-resolution electron microscopy // Semiconductors. – 2015. – V. 49. – №. 13. – P. 1714-1717.
http://link.springer.com/article/10.1134/S1063782615130102
DOI: 10.1134/S1063782615130102
5. Приходько А.С., Боргардт Н.И., Зайбт М. Электронно-микроскопические исследования турбостратной структуры пироуглерода с применением метода реконструкции волновой функции электрона //Известия Российской Академии Наук. Серия физическая. – 2015. – Т. 79. – №. 11. – С. 1536.
http://link.springer.com/article/10.3103%2FS1062873815110180
DOI: 10.3103/S1062873815110180
6. Ловыгин М.В., Боргардт Н.И., Казаков И.П., Зайбт М. Электронно-микроскопические исследования слоя алюминия, выращенного на вицинальной поверхности подложки арсенида галлия //Физика и техника полупроводников. – 2015. – Т. 49. – №. 3.
Перевод.
Lovygin M.V., Borgardt N.I., Kazakov I.P., Seibt M. Electron microscopy of an aluminum layer grown on the vicinal surface of a gallium arsenide substrate //Semiconductors. – 2015. – V. 49. – №. 3. – P. 337-344.
http://link.springer.com/article/10.1134/S1063782615030136
DOI: 10.1134/S1063782615030136
7. Боргардт Н.И., Волков Р.Л., Румянцев А.В., Чаплыгин Ю.А. Моделирование распыления материалов фокусированным ионным пучком // Письма в ЖТФ. – 2015. – Т. 41. – В. 12. – С. 97–104.
Borgardt N. I., Volkov R. L., Rumyantsev A. V., Chaplygin Yu. A. Simulation of material sputtering with a focused ion beam // Technical Physics Letters. – 2015. – V. 41. – №. 6. – P. 610-613.
http://link.springer.com/article/10.1134%2FS106378501506019X
DOI:10.1134/S106378501506019X
8. Ловыгин М.В., Боргардт Н.И., Бугаев А.С., Волков Р.Л., Зайбт М. Исследование структуры и состава напряженного эпитаксиального слоя в гетерокомпозиции InAlAs/GaAs(100) методами просвечивающей электронной микроскопии // Известия вузов. ЭЛЕКТРОНИКА. – 2015. Т–. 20. – № 4. – С. 431–439.
Перевод.
Lovygin, M. V., Borgardt N. I., Bugaev A. S., Volkov R. L., Seibt M. Study of the structure and composition of the strained epitaxial layer in the InAlAs/GaAs(100) heterostructure by transmission electron microscopy //Semiconductors. – 2016. – V. 50. – №. 13. – P. 1753-1758.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782616130066
DOI:10.1134/S1063782616130066
Конференции:
1. XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, Черноголовка, 2015 – 3 доклада.
2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2015», Зеленоград, 2015 – 5 докладов.
3. 7-й Международный научный семинар и 5-я Международная молодежная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики», Великий Новгород, 2015 – 3 доклада.
Кандидатские диссертации:
Ловыгин М.В. Влияние подложки на структуру металлических и полупроводниковых слоев в гетерокомпозициях на основе A3B5 по данным электронной микроскопии. Диссертация на соискание степени кандидата физико-математических наук. M. MИЭТ. 2015.
Магистерские диссертации:
Сазонов В.А. Исследование слоя низкотемпературного арсенида галлия, выращенного на подложке кремния, методами электронной микроскопии // M. MИЭТ. 2015.
Чернышев И. В. Автоматизированное измерение координат и геометрических параметров пористой матрицы Al2O3 // M. MИЭТ. 2015.
Выпускные бакалаврские работы:
Шпакова Е.С. Исследование области взаимодействия электронного пучка с поверхностью образца // M. MИЭТ. 2015.
Печёрских Г.А. Исследование тонких пленок Pt/Pd для применения в растровой электронной микроскопии // M. MИЭТ. 2015.
2014 г.
Статьи:
1 Shilyaeva Y.I., Bardushkin V.V., Borgardt N.I. et al. Melting temperature of metal polycrystalline nanowires electrochemically deposited into the pores of anodic aluminum oxide // Physical Chemistry Chemical Physics. – 2014. – V. 16. – № 36. – P. 19394-19401.
http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2014/CP/C4CP02436B#!divAbstract
DOI: 10.1039/c4cp02436b
2 Gromov D. et al. Study of growth kinetics of amorphous carbon nanopillars formed by PECVD //The International Conference on Micro-and Nano-Electronics 2014. – International Society for Optics and Photonics, – 2014. – С. 94400D-94400D-9.
http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=2086474
DOI:10.1117/12.2179765
3 Gromov D.G. et al. Formation of gold and silver cluster arrays using vacuum-thermal evaporation on a non-heated substrate //The International Conference on Micro-and Nano-Electronics 2014. – International Society for Optics and Photonics, – 2014. – С. 94400E-94400E-10.
http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=2086475
DOI:10.1117/12.2180775
4. Koltsov A., Pavlova L., Kukin V., Prikhodko A., Cornu M., Kirilenko E. Elaboration and characterization of Fe/silica-nanofilm tailored surfaces // Surface & Coatings Technology – 2014. – Vol. 247. – P. 39-47.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S025789721400190X
DOI:https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2014.03.002
5. Pyatilova O.V., Gavrilov S.A., Dronov A.A., Grishina Ya.S., Belov A.N. Role of Ag+ ion concentration on metal assisted chemical etching of silicon // Solid State Phenomena – 2014. – Vol. 213. – P 103-108.
https://www.scientific.net/SSP.213.103
DOI:10.4028/www.scientific.net/SSP.213.103
6. Кукин В.Н. Сопряжение фаз в углеситалле // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования – 2014. – № 8. – С. 18–23
Перевод.
Kukin V. N. Conjugation of phases in pyroboroncarbon // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2014. – V. 8. – №. 4. – С. 748-753.
https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451014030082
DOI:10.1134/S1027451014030082
Конференции:
1. XХV-я Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, 2014 – 6 докладов.
2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2014», Зеленоград, 2014 – 2 доклада.
3. The 17th International Conference on Extended Defects in Semiconductors, Геттинген, 2014 – 2 доклада.
Магистерские диссертации:
Румянцев А.В. Компьютерное моделирование процесса формирования наноструктур при распылении фокусированным ионным пучком // M. MИЭТ. 2014.
Выпускные бакалаврские работы:
Самойлова К.Ю. Исследование наноразмерных пленок золота, полученных методом магнетронного распыления // M. MИЭТ. 2014.
2013 г.
Статьи:
1. Thiel K., Borgardt N.I., Plikat B., Seibt M. Mesoscopic properties of interfacial ordering in amorphous germanium on Si(111) determined by quantitative digital image series matching // Ultramicroscopy. – 2013. – Vol. 125. – P. 1-9.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399112002811
DOI:10.1016/j.ultramic.2012.11.002
2. Громов Д.Г., Боргардт Н.И., Волков Р.Л. Галперин В.А., Гришина Я.С., Дубков С.В. Особенности структуры и свойств углеродных наностолбиков, сформированных низкотемпературным осаждением из газовой фазы // Известия вузов. Электроника. – 2013. – № 2. – C. 42-48.
Перевод.
Gromov D. G., Borgardt N. I., Volkov R. L., Galperin V. A., Grishina Ya. S. Dubkov S. V. Specific features of the structure and properties of carbon nanocolumns formed by low-temperature chemical vapor deposition //Semiconductors. – 2013. – V. 47. – №. 13. – P. 1703-1706.
http://link.springer.com/article/10.1134%2FS1063782613130095
DOI:10.1134/S106378261313009
3. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н., Агафонов А.В., Кузнецов В.О. Исследование субмикронных полостей в углеситалле методом фокусированного ионного пучка // Письма в ЖТФ. – 2013. – Т. 39. – №. 18. – C. 53-60.
Перевод.
Volkov R. L., Borgardt N. I., Kukin V. N., Agafonov A. V., Kuznetsov V. O. Studying submicron voids in pyroboroncarbon with the focused ion beam technique //Technical Physics Letters. – 2013. – V. 39. – №. 9. – P. 822-824.
http://link.springer.com/article/10.1134%2FS106378501309023X
DOI:10.1134/S106378501309023X
4. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н., Агафонов А.В., Кузнецов В.О. Электронно-микроскопические исследования монокристаллических включений в углеситалле // Известия РАН. Серия Физическая. – 2013. – Т. 77. – № 8. – С. 1076–1081.
Перевод.
Volkov R. L., Borgardt N. I., Kukin V. N. Using a focused ion beam and transmission electron microscopy for local studies on pyrocarbon materials //Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. – 2011. – V. 75. – №. 9. – P. 1227-1230.
http://link.springer.com/article/10.3103%2FS106287381308042X
DOI:10.1023/A:1011819819448
5. Ичкитидзе Л.П., Подгаецкий В.М., Приходько А.С., Путря Б.М., Благов Е.В., Павлов А.А., Галперин В.А., Кицюк Е.П., Шаман Ю.П. Электропроводный композиционный наноматериал с биосовместимой матрицей и многослойными углеродными нанотрубками // Медицинская техника. – 2013. – № 2. C. – 11-16.
Перевод.
Ichkitidze L. P., Podgaetsky V. M., Prihodko A. S., Putra B. M., Blagov, E. V., Pavlov A. A., Galperin V. A., Kitsyuk E. P., Shaman Y. P. A Conductive Composite Nanomaterial with Biocompatible Matrix and Multilayer Carbon Nanotubes // Biomedical Engineering. – 2013. – V. 47. – №. 2. – P. 68-72.
https://link.springer.com/article/10.1007/s10527-013-9337-6
DOI:10.1007/s10527-013-9337-6
6. Maksimov К.S., Maksimov S. К. A new approach to the habit determination of nano-objects by SEM // Nanomaterials and Nanotechnology. – 2013. – Vol. 3. – P. 1-10.
http://journals.sagepub.com/doi/abs/10.5772/56746
Конференции:
1. XХV-я Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, 2013 – 2 доклада.
2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика – 2013», Зеленоград, 2013. – 3 доклада.
3. 6-й Международный научный семинар и 4-я Международная молодежная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики», Великий Новгород, 2013 – 2 доклада.