МИЭТ

Национальный
исследовательский
университет

Орден трудового красного знамени
Рейтинг QS

National Research University of
Electronic Technology

Версия для слабовидящих Версия для печати Поиск по сайту На гланую страницу сайта
Авторизация
Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии  
Руководитель: д.ф.-м.н., профессор Николай Иванович Боргардт
телефон: (499) 720-87-65, внутренний телефон: 29-65
E-mail: lemi@miee.ru
Аудитория: 7109

Публикации

2016 г.

Статьи:

1. Kashammer P., Borgardt N.I., Seibt M., Sinno T. Quantitative assessment of molecular dynamics-grown amorphous silicon and germanium films on silicon (111) // Surface Science. – 2016. – Vol. 651 – P. 100–104.http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0039602816300796

DOI:10.1016/j.susc.2016.04.002

2. Borgardt N. I., Rumyantsev A. V. Prediction of surface topography due to finite pixel spacing in FIB milling of rectangular boxes and trenches // Journal of Vacuum Science & Technology B. – 2016. – Vol. 34. – №. 6. – P. 061803. http://avs.scitation.org/doi/abs/10.1116/1.4967249?journalCode=jvb

DOI: 10.1116/1.4967249

3. Golubev Y. A., Isaenko S.I., Prikhodko A.S., Borgardt N.I., Suvorova E.I. Raman spectroscopic study of natural nanostructured carbon materials: shungite vs. anthraxolite // European Journal of Mineralogy. – 2016. – P. ejm2537_pap_gsw.

http://eurjmin.geoscienceworld.org/content/early/2016/04/10/ejm.2016.0028-2537.abstract

DOI:10.1127/ejm/2016/0028-2537

4. Боргардт Н.И., Приходько А.С., Зайбт М. Влияние атомарной структуры базисных плоскостей на межплоскостное расстояние в пиролитических углеродных материалах // Письма в ЖТФ. – 2016. – Т 42. –№. 23. – С. 1–8.

Перевод.

Borgardt, N. I., Prihodko A. S., Seibt M. The influence of the atomic structure of basal planes on interplanar distance in pyrolytic carbon materials // Technical Physics Letters – 2016. – Vol. 42. – №. 12. – P. 1137-1140.

https://link.springer.com/article/10.1134/S106378501612004X

DOI: 10.1134/S106378501612004X

5. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Гуртовой В.Л., Ильин А.И., Карабулин А.В., Матюшенко В.И., Ходос И.И., Гордон Е.Б. Мобильная микроячейка для измерения электрических характеристик индивидуальных нанотрубок и нанопроволок // Приборы и техника эксперимента. – 2016. – Т. 59. – №. 6. – С. 77-86.

Перевод.

Volkov R.L., Borgardt N.I., Gurtovoi V.L., Il’in A.I., Karabulin A.V., Matyushenko V.I., Khodos I.I., Gordon E.B. A mobile microcell for measuring the electrical characteristics of individual nanowires and nanotubes //Instruments and Experimental Techniques. – 2016. – V. 59. – №. 6. – P. 848-856.

http://link.springer.com/article/10.1134/S0020441216060105

doi:10.1134/S0020441216060105

6. Богданова Н.А., Зыбина Ю.С., Шпакова Е.С. Использование сингулярного разложения матриц для сжатия электронно-микроскопических изображений // Экономические и социально-гуманитарные исследования – 2016. – T. 10, – № 2. – C. 9-12.

Конференции:

1. XXVI Российская конференция по электронной микроскопии, Зеленоград, 2016 – 8 докладов.

2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2016», Зеленоград, 2016 – 2 доклада.

3. 8-й Международный научный семинар и 6-я Международная молодежная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики», Великий Новгород, 2016 – 1 доклад.

4. Первый российский кристаллографический конгресс, Москва, 2016 – 1 доклад.

Докторские диссертации:

Кукин В.Н. Электронная микроскопия наноразмерных структур в пироуглеродных и полупроводниковых материалах. Диссертация на соискание степени доктора физико-математических наук. M. MИЭТ. 2016.

Выпускные бакалаврские работы:

Дубров А.Ю. Исследование воздействия фокусированного ионного пучка на пленки металлов // M. MИЭТ. 2016.

Чемаров Г.В. Исследование влияния воздействия фокусированного ионного пучка на структуру кристаллов // M. MИЭТ. 2016.

2015 г.

Статьи:

1. Prikhodko A.S., Borgardt N I. Seibt M. Turbostratic pyrocarbon structure study by means of exit wave reconstruction from high-resolution transmission electron microscopy // Physica Status Solidi C. – 2015. – V. 12. – № 8, – P. 1179-1182.

http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssc.201400363/abstract

DOI: 10.1002/pssc.201400363

2. Lovygin M.V., Borgardt N I. Kazakov I P, Seibt M. Structural studies of Al thin layer on misoriented GaAs(100) substrate by transmission electron microscopy // Physica Status Solidi C. – 2015. – V. 12. – №. 6, – P. 1148-1151.

http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssc.201400357/abstract

DOI: 10.1002/pssc.201400357

3. Gromov D.G., Lebedev E.A., Savitskiy A.I., Trifonov A.Yu., Rubcov V.V., Borgardt N.I., Grishina Ya.S. Investigation of condensation of small portions of Ag at thermal evaporation in vacuum //Journal of Physics: Conference Series. – IOP Publishing, 2015. – VOL. 643. – №. 1. – P. 012014.

http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/643/1/012014/meta

DOI:10.1088/1742-6596/643/1/012014

4. Ловыгин М.В., Боргардт Н.И., Зайбт М., Казаков И.П., Цикунов А.В. Исследование структуры тонкого слоя алюминия на вицинальной поверхности подложки арсенида галлия методом высокоразрешающей электронной микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника. –2015. – Т. 20. – № 1. –С. 10-16.

Перевод.

Lovygin M.V., Borgardt N.I., Seibt M., Kazakov I.P., Tsikunov A.V. Study of the structure of a thin aluminum layer on the vicinal surface of a gallium arsenide substrate by high-resolution electron microscopy // Semiconductors. – 2015. – V. 49. – №. 13. – P. 1714-1717.

http://link.springer.com/article/10.1134/S1063782615130102

DOI: 10.1134/S1063782615130102

5. Приходько А.С., Боргардт Н.И., Зайбт М. Электронно-микроскопические исследования турбостратной структуры пироуглерода с применением метода реконструкции волновой функции электрона //Известия Российской Академии Наук. Серия физическая. – 2015. – Т. 79. – №. 11. – С. 1536.

http://link.springer.com/article/10.3103%2FS1062873815110180

DOI: 10.3103/S1062873815110180

6. Ловыгин М.В., Боргардт Н.И., Казаков И.П., Зайбт М. Электронно-микроскопические исследования слоя алюминия, выращенного на вицинальной поверхности подложки арсенида галлия //Физика и техника полупроводников. – 2015. – Т. 49. – №. 3.

Перевод.

Lovygin M.V., Borgardt N.I., Kazakov I.P., Seibt M. Electron microscopy of an aluminum layer grown on the vicinal surface of a gallium arsenide substrate //Semiconductors. – 2015. – V. 49. – №. 3. – P. 337-344.

http://link.springer.com/article/10.1134/S1063782615030136

DOI: 10.1134/S1063782615030136

7. Боргардт Н.И., Волков Р.Л., Румянцев А.В., Чаплыгин Ю.А. Моделирование распыления материалов фокусированным ионным пучком // Письма в ЖТФ. – 2015. – Т. 41. – В. 12. – С. 97–104.

Borgardt N. I., Volkov R. L., Rumyantsev A. V., Chaplygin Yu. A. Simulation of material sputtering with a focused ion beam // Technical Physics Letters. – 2015. – V. 41. – №. 6. – P. 610-613.

http://link.springer.com/article/10.1134%2FS106378501506019X

DOI:10.1134/S106378501506019X

8. Ловыгин М.В., Боргардт Н.И., Бугаев А.С., Волков Р.Л., Зайбт М. Исследование структуры и состава напряженного эпитаксиального слоя в гетерокомпозиции InAlAs/GaAs(100) методами просвечивающей электронной микроскопии // Известия вузов. ЭЛЕКТРОНИКА. – 2015. Т–. 20. – № 4. – С. 431–439.

Перевод.

Lovygin, M. V., Borgardt N. I., Bugaev A. S., Volkov R. L., Seibt M. Study of the structure and composition of the strained epitaxial layer in the InAlAs/GaAs(100) heterostructure by transmission electron microscopy //Semiconductors. – 2016. – V. 50. – №. 13. – P. 1753-1758.

https://link.springer.com/article/10.1134/S1063782616130066

DOI:10.1134/S1063782616130066

Конференции:

1. XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, Черноголовка, 2015 – 3 доклада.

2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2015», Зеленоград, 2015 – 5 докладов.

3. 7-й Международный научный семинар и 5-я Международная молодежная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики», Великий Новгород, 2015 – 3 доклада.

Кандидатские диссертации:

Ловыгин М.В. Влияние подложки на структуру металлических и полупроводниковых слоев в гетерокомпозициях на основе A3B5 по данным электронной микроскопии. Диссертация на соискание степени кандидата физико-математических наук. M. MИЭТ. 2015.

Магистерские диссертации:

Сазонов В.А. Исследование слоя низкотемпературного арсенида галлия, выращенного на подложке кремния, методами электронной микроскопии // M. MИЭТ. 2015.

Чернышев И. В. Автоматизированное измерение координат и геометрических параметров пористой матрицы Al2O3 // M. MИЭТ. 2015.

Выпускные бакалаврские работы:

Шпакова Е.С. Исследование области взаимодействия электронного пучка с поверхностью образца // M. MИЭТ. 2015.

Печёрских Г.А. Исследование тонких пленок Pt/Pd для применения в растровой электронной микроскопии // M. MИЭТ. 2015.

2014 г.

Статьи:

1 Shilyaeva Y.I., Bardushkin V.V., Borgardt N.I. et al. Melting temperature of metal polycrystalline nanowires electrochemically deposited into the pores of anodic aluminum oxide // Physical Chemistry Chemical Physics. – 2014. – V. 16. – № 36. – P. 19394-19401.

http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2014/CP/C4CP02436B#!divAbstract

DOI: 10.1039/c4cp02436b

2 Gromov D. et al. Study of growth kinetics of amorphous carbon nanopillars formed by PECVD //The International Conference on Micro-and Nano-Electronics 2014. – International Society for Optics and Photonics, – 2014. – С. 94400D-94400D-9.

http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=2086474

DOI:10.1117/12.2179765

3 Gromov D.G. et al. Formation of gold and silver cluster arrays using vacuum-thermal evaporation on a non-heated substrate //The International Conference on Micro-and Nano-Electronics 2014. – International Society for Optics and Photonics, – 2014. – С. 94400E-94400E-10.

http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=2086475

DOI:10.1117/12.2180775

4. Koltsov A., Pavlova L., Kukin V., Prikhodko A., Cornu M., Kirilenko E. Elaboration and characterization of Fe/silica-nanofilm tailored surfaces // Surface & Coatings Technology – 2014. – Vol. 247. – P. 39-47.

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S025789721400190X

DOI:https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2014.03.002

5. Pyatilova O.V., Gavrilov S.A., Dronov A.A., Grishina Ya.S., Belov A.N. Role of Ag+ ion concentration on metal assisted chemical etching of silicon // Solid State Phenomena – 2014. – Vol. 213. – P 103-108.

https://www.scientific.net/SSP.213.103

DOI:10.4028/www.scientific.net/SSP.213.103

6. Кукин В.Н. Сопряжение фаз в углеситалле // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования – 2014. – № 8. – С. 18–23

Перевод.

Kukin V. N. Conjugation of phases in pyroboroncarbon // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. – 2014. – V. 8. – №. 4. – С. 748-753.

https://link.springer.com/article/10.1134/S1027451014030082

DOI:10.1134/S1027451014030082

Конференции:

1. XХV-я Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, 2014 – 6 докладов.

2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика 2014», Зеленоград, 2014 – 2 доклада.

3. The 17th International Conference on Extended Defects in Semiconductors, Геттинген, 2014 – 2 доклада.

Магистерские диссертации:

Румянцев А.В. Компьютерное моделирование процесса формирования наноструктур при распылении фокусированным ионным пучком // M. MИЭТ. 2014.

Выпускные бакалаврские работы:

Самойлова К.Ю. Исследование наноразмерных пленок золота, полученных методом магнетронного распыления // M. MИЭТ. 2014.

2013 г.

Статьи:

1. Thiel K., Borgardt N.I., Plikat B., Seibt M. Mesoscopic properties of interfacial ordering in amorphous germanium on Si(111) determined by quantitative digital image series matching // Ultramicroscopy. – 2013. – Vol. 125. – P. 1-9.

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399112002811

DOI:10.1016/j.ultramic.2012.11.002

2. Громов Д.Г., Боргардт Н.И., Волков Р.Л. Галперин В.А., Гришина Я.С., Дубков С.В. Особенности структуры и свойств углеродных наностолбиков, сформированных низкотемпературным осаждением из газовой фазы // Известия вузов. Электроника. – 2013. – № 2. – C. 42-48.

Перевод.

Gromov D. G., Borgardt N. I., Volkov R. L., Galperin V. A., Grishina Ya. S. Dubkov S. V. Specific features of the structure and properties of carbon nanocolumns formed by low-temperature chemical vapor deposition //Semiconductors. – 2013. – V. 47. – №. 13. – P. 1703-1706.

http://link.springer.com/article/10.1134%2FS1063782613130095

DOI:10.1134/S106378261313009

3. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н., Агафонов А.В., Кузнецов В.О. Исследование субмикронных полостей в углеситалле методом фокусированного ионного пучка // Письма в ЖТФ. – 2013. – Т. 39. – №. 18. – C. 53-60.

Перевод.

Volkov R. L., Borgardt N. I., Kukin V. N., Agafonov A. V., Kuznetsov V. O. Studying submicron voids in pyroboroncarbon with the focused ion beam technique //Technical Physics Letters. – 2013. – V. 39. – №. 9. – P. 822-824.

http://link.springer.com/article/10.1134%2FS106378501309023X

DOI:10.1134/S106378501309023X

4. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н., Агафонов А.В., Кузнецов В.О. Электронно-микроскопические исследования монокристаллических включений в углеситалле // Известия РАН. Серия Физическая. – 2013. – Т. 77. – № 8. – С. 1076–1081.

Перевод.

Volkov R. L., Borgardt N. I., Kukin V. N. Using a focused ion beam and transmission electron microscopy for local studies on pyrocarbon materials //Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. – 2011. – V. 75. – №. 9. – P. 1227-1230.

http://link.springer.com/article/10.3103%2FS106287381308042X

DOI:10.1023/A:1011819819448

5. Ичкитидзе Л.П., Подгаецкий В.М., Приходько А.С., Путря Б.М., Благов Е.В., Павлов А.А., Галперин В.А., Кицюк Е.П., Шаман Ю.П. Электропроводный композиционный наноматериал с биосовместимой матрицей и многослойными углеродными нанотрубками // Медицинская техника. – 2013. – № 2. C. – 11-16.

http://www.mtjournal.ru/archive/2013/meditsinskaya-tekhnika-2/elektroprovodnyy-kompozitsionnyy-nanom…

Перевод.

Ichkitidze L. P., Podgaetsky V. M., Prihodko A. S., Putra B. M., Blagov, E. V., Pavlov A. A., Galperin V. A., Kitsyuk E. P., Shaman Y. P. A Conductive Composite Nanomaterial with Biocompatible Matrix and Multilayer Carbon Nanotubes // Biomedical Engineering. – 2013. – V. 47. – №. 2. – P. 68-72.

https://link.springer.com/article/10.1007/s10527-013-9337-6

DOI:10.1007/s10527-013-9337-6

6. Maksimov К.S., Maksimov S. К. A new approach to the habit determination of nano-objects by SEM // Nanomaterials and Nanotechnology. – 2013. – Vol. 3. – P. 1-10.

http://journals.sagepub.com/doi/abs/10.5772/56746

Конференции:

1. XХV-я Российская конференция по электронной микроскопии, Черноголовка, 2013 – 2 доклада.

2. Всероссийская межвузовская научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Микроэлектроника и информатика – 2013», Зеленоград, 2013. – 3 доклада.

3. 6-й Международный научный семинар и 4-я Международная молодежная научная школа-семинар «Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики», Великий Новгород, 2013 – 2 доклада.