В МИЭТе обсудили векторы развития метрологического обеспечения отечественной радиоэлектроники
С 23 по 25 июня в МИЭТе состоялась XV Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в радиоэлектронике». Её главный организатор — партнёр нашего университета ФГУП «ВНИИФТРИ».
Мероприятие прошло при поддержке Минпромторга России, Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) и при участии Международного союза радионаук (URSI).
На главном отраслевом событии года встретились метрологи, учёные и приборостроители, чтобы обменяться опытом и наладить профессиональные связи.
Пленарное заседание открыл ректор МИЭТа Сергей Гаврилов. «То, что создано во ВНИИФТРИ, впечатляет! Наши студенты с удовольствием проходят там практику и часто остаются работать», — отметил он. Сергей Александрович подчеркнул, что метрология важна во всех сферах жизни, и анонсировал открытие базовой кафедры с ВНИИФТРИ.
С приветственным словом выступил заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) Евгений Лазаренко. Он рассказал о том, что сегодня государство уделяет большое внимание развитию радио- и микроэлектроники, и это способствует значительному прогрессу в метрологическом обеспечении оборудования. «Приборостроение, которое восстанавливается в метрологических институтах и в учебных заведениях — это наше будущее», — добавил он.
На конференции были рассмотрены ключевые направления развития метрологического обеспечения отечественной радиоэлектронной отрасли:
- глобальные тренды развития радиотехнических и радиоэлектронных измерений;
- вопросы обеспечения единства измерений в радиоэлектронике;
- метрологическое обеспечение в современных радиотехнических приложениях.
В числе первых доклад представил Иван Малай, заместитель генерального директора ФГУП «ВНИИФТРИ» по радиотехническим и электромагнитным измерениям.
В ходе работы конференции состоялся круглый стол «Обеспечение единства измерений параметров микроэлектронных структур на пластине». Ключевыми спикерами стали ведущие учёные в области радиоизмерений, а также технические специалисты предприятий-производителей микроэлектроники, в частности, ФГУП «ВНИИФТРИ», Восточно-Сибирского филиала ФГУП «ВНИИФТРИ», Института физики твёрдого тела РАН, ООО «МВЭЙВ», ООО «ПЛАНАР» и др..
По итогам круглого стола были определены пути решения ключевых задач обеспечения единства измерений комплексных коэффициентов отражения и передачи микроэлектронных структур на пластине. Реализация предложенных решений позволит повысить точность измерений при производстве продукции.
В библиотеке МИЭТа была организована выставка, где гости могли ознакомиться с проектами и разработками компаний, в том числе с прецизионным оборудованием ВНИИФТРИ и партнёров.
В течение трёх дней в работе конференции приняли участие более 160 специалистов из крупнейших региональных центров России (Иркутск, Екатеринбург, Казань, Москва, Нижний Новгород, Новосибирск, Санкт-Петербург, Томск, Тула, Челябинск и др.).
