Научно-исследовательская лаборатория «Сборка и испытания электронных компонентов» (НИЛ ЭК)
- Комплекс для заполнения зазора компаундом между подложкой и кристаллом, AeroJet MUSASHI Engineering, Япония
- Комплекс для формирования FC бампов на кремниевых пластинах, SB2-Jet, Packeging Technologies, Германи
- Комплекс для разделения пластин и извлечения годных кристаллов System DE35-ST, Royceinstruments, США
- Рентгеноскопическая цифровая система контроля микросхем с функцией томографии XD7600NT, DAGE Precision Industries Ltd., Великобритания
- Установка плазменной очистки YES G500, Yield Engeniering System, Inc., США
- Автомат разварки выводов 64000 G5, F&K Delvotec GmbH, Германия
- Линия герметизации корпусов методом роликовой шовной сварки с вакуумной печью и возможностью корпусирования в гелиевой среде HPS 9206, Pyramid Engineering Systems Ltd., Великобритания
- Установка тестирования микросистем UltraFlex, Teradyne Inc., США
- Зондовая установка для тестирования микросистем в составе пластин UF200A, TOKYO SEIMITSU CO., LTD, Япония