Институт НМСТ и компания Mentor, а Siemens Business провели совместный семинар по технологии «цифрового двойника»

Институт НМСТ и компания Mentor, а Siemens Business провели совместный семинар по технологии «цифрового двойника»

13 ноября в рамках дня Института нано- и микросистемной техники в НИУ МИЭТ прошел семинар «Маршрут проектирования сложных систем по технологии «цифрового двойника». Мероприятие вызвало большой интерес – семинар посетили представители около 20 предприятий, среди которых АО «НТЦ ЭЛИНС», АО «НИИ ТП», ФГУП «РФЯЦ-ВНИИТФ», АО «НИИМЭ», ЗАО «Саровские лаборатории», АО «ПКК Миландр», ЗАО «НПП "ОПТЭКС» и др.

Директор Института нано- и микросистемной техники, С.П. Тимошенков, открыл семинар, выступив с приветственным словом. Главной темой семинара стал маршрут проектирования сложных систем по технологии «цифрового двойника», которая является одним из ведущих трендов в промышленности.

На семинаре с докладами выступили:

  • Mentor, а Siemens Business, Денис Лобзов («Три неизбежных предпосылки внедрения технологии «цифрового двойника»), Кирилл Никеев («Средства анализа и верификации для прогнозирования работоспособности высокоскоростных печатных плат»), Харитонович Алексей («Методы трёхмерного теплового анализа сложных систем»);

  • Siemens Digital Industries, Илья Чайковский («Виртуализация процесса разработки сложной электроники, опыт применения решений Siemens»);

  • МЕГРАТЕК, Александр Филиппов («Комплексная виртуальная лаборатория для смешанного моделирования сложно-функциональной электроники»);

  • Нанософт, Богдан Филипов («Совместная работа инженеров в ECAD/MCAD-системах»);

  • НКАБ-Эрикон, Александр Пузырев («Технологическая подготовка цифрового двойника печатной платы к производству»).

Выступления каждого из спикеров сопровождались активной дискуссией и ответами на вопросы от участников семинара.

Также вам может быть интересно В УНЦ «Mentor Graphics ˗ МИЭТ» завершился курс повышения квалификации
Приемная комиссия 8 800 600-56-89 abit@miee.ru
Контакты для прессы +7 499 720-87-27 mc@miee.ru