+7 (495) 198-00-00 Горячая линия ситуационного центра Минобрнауки
по вопросам поддержки образовательных организаций высшего образования, а также их сотрудников и обучающихся, по вопросам профилактики распространения COVID-19 перейти на сайт МОН

28 декабря 2021 года в 14 часов 30 минут в ауд. 3103 состоится защита кандидатской диссертации Зайцевой Юлии Сергеевны

Диссертация
Шифр советаД 212.134.01
Дата размещения объявления27.10.2021
СоискательЗайцева Юлия Сергеевна
Название диссертацииСтруктура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии
Дата защиты28.12.2021
Шифр01.04.10
СпециальностьФизика полупроводников
Отрасль наукифизико-математические науки
АвторефератЗагрузить
Текст диссертацииЗагрузить
Решение ДС о приеме к защите диссертацииЗагрузить
Отзыв научного руководителяЗагрузить
Отзывы на диссертацию и авторефератЗагрузить
Загрузить
Загрузить
Ведущая организация
Сведения о ведущей организацииИнститут проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН: 142432, Московская обл, Ногинский р-н, Черноголовка, Институтская ул, д. 6; +7 (495) 962-80-74; general@ipmt-hpm.ac.ru; http://www.iptm.ru.
Отзывы ведущей организации и публикацииЗагрузить
Загрузить
Оппоненты
Сведения об оппонентахАвилов Анатолий Сергеевич - доктор физико-математических наук (01.04.18), зав. отделом электронной кристаллографии Института кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН; Вишняков Николай Владимирович - кандидат технических наук, доцент (01.04.10), доцент кафедры микро- и наноэлектроники Рязанского государственного радиотехнического университета им. В.Ф. Уткина.
Результаты защиты