| Подразделение | Должность |
| Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии (НИЛ ЭМИ) | инженер |
Краткая биография
В 2013 году окончил бакалавриат на кафедре квантовой физики и наноэлектроники НИУ
МИЭТ по специальности «Микро- и наноэлектроника». В 2015 г. окончил магистратуру
на кафедре общем физики НИУ МИЭТ по направлению подготовки «Электроника и
наноэлектроника» по программе «Нанодиагностика материалов и структур». С 2010 г. по
настоящее время – сотрудник лаборатории электронно-микроскопических исследований
МИЭТ.
Научная деятельность
Область научных интересов
Электронная микроскопия, фокусированный ионный пучок, дефекты кристаллической структуры, электронно-микроскопические методы исследования полупроводниковых материалов А3В5.
Публикации:
-
Сазонов В.А., Боргардт Н.И., Кукин В.Н., Казаков И.П. Характеризация зернистой
структуры эпитаксиального слоя низкотемпературного GaAs на подложке Si(100)
методами электронной микроскопии // Поверхность. Рентген., синхротр., и
нейтрон. исслед., (2022), № 7, с. 57-64. -
Казаков И.П., Зиновьев С.А., Клековкин А.В., Сазонов В.А., Кукин В.Н., Боргардт
Н.И. Разворот слоев GaAs в гетероструктурах GaAs/Ge/GaAs // Краткие сообщения
по физике ФИАН, т. 47 (2020), № 12, с. 3-10.