| Подразделение | Должность |
| Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии (НИЛ ЭМИ) | с.н.с. |
| Институт физики и прикладной математики (ФПМ) | доцент |
Краткая биография
1987 года рождения.
В 2009 году окончил Московский институт электронной техники по кафедре квантовой физики и наноэлектроники с присуждением степени бакалавра техники и технологии по направлению «Электроника и микроэлектроника».
В 2011 году присуждена степень магистра техники и технологии, специализация – «Микро и наноэлектроника».
В 2015 году окончил аспирантуру при МИЭТе по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния».
С 2009 г. по настоящее время – сотрудник лаборатории электронно-микроскопических исследований МИЭТ.
Читаемые курсы
Научная деятельность
Область научных интересов: сканирующая электронная микроскопия, метод фокусированного ионного пучка, просвечивающая электронная микроскопия, моделирование высокоразрешающих электронно-микроскопических изображений, методы цифровой обработки изображений. Исследование атомарного строения углеродных материалов и границ раздела между монокристаллическими подложками и частично упорядоченными структурами.
Zallo, E., Pianetti, A., Prikhodko, A. S., Cecchi, S., Zaytseva, Y. S., Giuliani, A., ... & Calarco, R. (2023). Two-dimensional single crystal monoclinic gallium telluride on silicon substrate via transformation of epitaxial hexagonal phase. npj 2D Materials and Applications, 7(1), 19.
Rumyantsev, A. V., Borgardt, N. I., Prikhodko, A. S., & Chaplygin, Y. A. (2021). Characterizing interface structure between crystalline and ion bombarded silicon by transmission electron microscopy and molecular dynamics simulations. Applied Surface Science, 540, 148278.
Heilmann, M., Prikhodko, A. S., Hanke, M., Sabelfeld, A., Borgardt, N. I., & Lopes, J. M. J. (2020). Influence of proximity to supporting substrate on van der waals epitaxy of atomically thin graphene/hexagonal boron nitride heterostructures. ACS applied materials & interfaces, 12(7), 8897-8907.
Prikhodko, A. S., Borgardt, N. I., & Seibt, M. (2015). Turbostratic pyrocarbon structure study by means of exit wave reconstruction from high‐resolution transmission electron microscopy. physica status solidi (c), 12(8), 1179-1182.
Borgardt, N. I., Prihodko, A. S., & Seibt, M. (2016). The influence of the atomic structure of basal planes on interplanar distance in pyrolytic carbon materials. Technical Physics Letters, 42, 1137-1140.