Подразделение | Должность |
Кафедра интегральной электроники и микросистем | доцент |
Краткая биография
Родился в 1984 году в г. Магнитогорске, Челябинская область.
В 2005 году закончил факультет электроники и компьютерных технологий МИЭТ с присуждением степени бакалавра техники и технологии по направлению «Электроника и микроэлектроника». В 2007 году закончил факультет электроники и компьютерных технологий МИЭТ с присуждением степени магистра техники и технологии по направлению «Электроника и микроэлектроника».
В 2010 году защитил диссертацию на соискание степени кандидата технических наук по специальности 05.27.01 на тему «Исследование механизмов температурной нестабильности и разработка специализированных интегральных схем высокоточной термостабилизации для сканирующей зондовой микроскопии».
С 2011 года доцент кафедры ИЭМС.
Стаж научно-педагогической работы в высших учебных заведениях составляет более 5 лет.
Читаемые курсы
Для потока студентов-специалистов пятого курса факультета ЭКТ и шестого курса студентов-магистров (лекции)
Маршруты полузаказных СБИС
Руководит дипломным проектированием.
Научная деятельность
Достижения:
2011 Выигранный государственный контракт № 16.740.11.0725
Публикации:
Автор 13 научных трудов, из них 1 Свидетельство о государственной регистрации программы
Список наиболее значимых работ:
1) Быков В.А., Кузнецов Е.В., Пьянков Е.С. Уменьшение влияния температурного дрейфа в сканирующей зондовой микроскопии // Известия высших учебных заведений. Электроника – 2010 - 5 (85). - С. 75-80.
2) Крупкина Т.Ю., Пьянков Е.С., Алексеев А.А., Измайлов Д.А. Улучшение системы позиционирования в сканирующей зондовой микроскопии// Известия высших учебных заведений. Электроника – 2010 - 6 (86). – С. 78-80
3) Reducing the temperature-drift effect in scanning probe microscopes. V.A Bykov, E. V. Kuznetsov, E.S.Pyankov, Semiconductors №13, Vol.45, 2011.