Путря Федор Михайлович Кандидат технических наук

Краткая биография

В 2006 закончил магистратуру МИЭТ (ЭКТ, кафедра ИЭМС) с отличием.

В 2009 году защитил кандидатскую диссертацию на тему «Исследование и разработка методов увеличения производительности интегральных схем многоядерных микропроцессоров на основе повышения эффективности коммутационной логики» (ВАК 05.27.01)

С 2004 по настоящее время: техник, инженер, старший научный сотрудник, начальник лаборатории «верификации СнК и СФ-блоков» АО НПЦ ЭЛВИС.

C 2016 года член совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии

С 2016 года руководитель секции «верификация и тестирование» на конференции Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС).

Читаемые курсы

  • Проектирование и верификация сложно-функциональных блоков (лекции, лабораторные работы)

Научная деятельность

Область научных интересов:

Многоядерные системы на кристалле (СнК), процессоры, функциональная верификация, генерация тестов, автоматизация процесса разработки ИС СнК, анализ производительности многоядерных гетерогенных СнК.

Автор свыше 40 научных трудов, из них 2 патента на изобретение

Список наиболее значимых опубликованных работ:

1. Путря Ф.М. АРХИТЕКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ ПРОЦЕССОРОВ С БОЛЬШИМ ЧИСЛОМ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ ЯДЕР. Информационные технологии. 2009. № 4. С. 2-7.

2. Путря Ф.М., Медведев И.А. ВЕРИФИКАЦИЯ КОММУТАЦИОННОЙ ЛОГИКИ ДЛЯ СИСТЕМ И СЕТЕЙ НА КРИСТАЛЛЕ. Вопросы радиоэлектроники. 2012. Т. 1. № 2. С. 56-66.

3. Putrya F. METHOD OF FREE C++ CODE MIGRATION BETWEEN SOC LEVEL TESTS AND STANDALONE IP-CORE UVM ENVIRONMENTS. Proceedings of IEEE East-West Design and Test Symposium, EWDTS 2014.

4. Жезлов К.А., Колбасов Я.С., Козлов А.О., Николаев А.В., Путря Ф.М., Фролова С.Е. АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЦЕССА СОЗДАНИЯ ТЕСТОВЫХ ОКРУЖЕНИЙ ОБЕСПЕЧИВАЮЩАЯ СКВОЗНОЙ МАРШРУТ РАЗРАБОТКИ, ВЕРИФИКАЦИИ И ИССЛЕДОВАНИЯ СФ-БЛОКОВ И СНК. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. № 2. С. 46-53.

5. Путря Ф.М. ОСОБЕННОСТИ ВЕРИФИКАЦИИ СОВРЕМЕННЫХ СИСТЕМ НА КРИСТАЛЛЕ. Микроэлектроника-2015. Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение сборник докладов Международной конференции. 2016. С. 49-57.

6. Fedor Putrya, Kirill Zhezlov, Yaroslav Kolbasov, Artyom Nikolaev. Vertical and Horizontal Code Reuse for SoC Functional Verification and Performance Analysis Stages. CDNLive2018, SoC Design and Verification, SVG15