№ п/п

Перечень должностей

Квалификационные требования

Область исследований

Место (адрес) приёма заявления

Срок приёма заявления

Место и дата проведения конкурса

Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии (НИЛ ЭМИ)

1.

Младший научный сотрудник

(0,5 ст)

- Высшее профессиональное образование.

- Стаж научной работы не менее 8 лет

- Опыт работы по тематике научных исследований (физика конденсированного состояния, физика полупроводников, физика микро- и наноструктур)

- Навыки работы со специальным оборудованием: просвечивающим электронным микроскопом Titan Themix 200 с корректором сферической абберации, электронно-ионным микроскопом Helios NanoLab 650, растровым электронным микроскопом Philips XL 40

- Владение языками программирования – Matlab и Python

- Уровень владения иностранным языком, достаточный для свободного чтения профессиональной научно-технической литературы

- Опыт педагогической работы с обучающимися в бакалавриате и магистартуре

- Наличие сертификатов о повышении квалификации (стажировки) в области исследований

- Наличие опубликованных научных, конструкторских и технологических произведений

- Изучение структуры полупроводниковых соединений на основе GaAs и GaP методами дифракции электронов, высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, высокоразрешающей просвечивающей растровой электронной микроскопии.

- Приготовление тонких фольг для электронно-микроскопических исследований с применением механического и ионного утонения и методом In-Situ Lift-Out на электронно-ионном микроскопе.

- Разработка способов выявления межзеренных границ, полярности исследуемых слоев, а также релаксации напряжений в изучаемых структурах на основе анализа электронно-микроскопических изображений.

- Характеризация морфологии поверхности различных полупроводниковых материалов и структур методом растровой электронной микроскопии на приборах FEI Helios NanoLab 650, FEI ChemiSEM Axia и Philips XL 40.

124498, г. Москва, Зеленоград,

площадь Шокина, дом 1,

ОРП МИЭТ,

комната № 1113

до 18:00 час. 20.05.2025 г.

МИЭТ,

аудитория

№ 7223,

30.06.2025 г.