Компания NationalInstruments и МИЭТ провели совместный семинар

«Технологии National Instruments в учебном процессе, науке и промышленности»

26 марта National Instruments при поддержке кафедр Электротехники (ЭТ) и Радиоэлектроники (РЭ) МИЭТа провела семинар «Технологии National Instruments в учебном процессе, науке и промышленности». В ходе семинара освещались вопросы работы Центра Технологий National Instruments в МИЭТ, а также представлены новейшие разработки NI в областях преподавания электротехнических и радиотехнических дисциплин, а также ряд технологий для микро- и радиоэлектронной промышленности.

Открыла семинара проректор МИЭТа по учебной работе И.Г. Игнатова, отметившая существенную роль высоких технологий, в том числе в области автоматизации измерений, в сегодняшнем развитии учебного и научно-исследовательского процесса в МИЭТе. Особое внимание проректор уделила инновационным технологиям, которые находят применение как внутри вуза, так и в микроэлектронной промышленности региона. Существующий в МИЭТе Центр Технологий National Instruments обладает всеми возможностями, которые позволяют не только обучать студентов современным методам измерений, тестирования электроники и разработки систем управления, но и проводить курсы повышения квалификации для сотрудников промышленных предприятий, собственные научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы.

Сотрудники National Instruments рассказали о новейших технологиях компании в области разработки учебных стендов по курсам электроники и схемотехники на базе платформ NI ELVIS и PXI. Речь шла, в том числе, о применении платформы PXI для тестирования компонентов электронной техники в промышленности. Существенный интерес у слушателей семинара вызвала демонстрация возможностей радиотехнического оборудования National Instruments, предназначенного для изучения, исследования и тестирования практически всех видов систем связи, в том числе аналогового и цифрового радио и телевидения, средств беспроводной передачи данных и сотовой связи, систем спутниковой навигации ГЛОНАСС и GPS.

Во второй половине семинара представители зеленоградской промышленности рассказали об опыте внедрения технологий NI на производстве. Компания «ЭЛВИС» представила пакет программ, разработанных в среде графического программирования NI LabVIEW, предназначенных для расчета систем подавления помех в линиях связи. Представитель компании «Микрон. Передовая технология» продемонстрировал рабочий вариант тестовой системы на базе оборудования NI DAQ, используемый для выходного контроля цифровых микросхем. В заключение компания «Миландр» рассказала о своем опыте применения оборудования NI PXI для автоматического тестирования микросхем интерфейсов в условиях их серийного производства.

В заключение семинара заведующие кафедрами ЭТ и РЭ представили организованные при участии National Instruments учебные лаборатории по курсам электротехники, схемотехники и радиоэлектроники, где которых проходят обучение студенты МИЭТа. Всем слушателям семинара, в том числе и представителям предприятий, было предложено принять участие в курсах повышения квалификации по изучению NI LabVIEW, NI Multisim и средств автоматизации измерений и тестирования, которые в самое ближайшее время планируется организовать при МИЭТе.

В ходе семинара работала выставка учебных и научно-исследовательских стендов National Instruments, на базе которых в настоящее время организуются научно-образовательные центры (НОЦ) в вузах РФ. Особый интерес у преподавателей и студентов вызвали такие стенды, как:

· Солнечные батареи (НОЦ «Альтернативная энергетика»);

· Система управления промышленным роботом (НОЦ «Робототехника и мехатроника»);

· Тестирование микросхем (НОЦ «Микроэлектроника»);

· Цифровое телевидение (НОЦ «Системы спутниковой связи и телекоммуникации»);

и другие.

Всего семинар посетили свыше 90 человек, из которых более половины составляли представители промышленности Зеленограда. По итогам семинара многие из них высказали пожелания активизировать сотрудничество с МИЭТом и National Instruments, как в сфере подготовки компетентных специалистов в области автоматизации тестирования и систем управления, так и в сфере НИОКР.

Компания National Instruments сердечно благодарит ректора МИЭТа Ю.А. Чаплыгина, проректора И.Г. Игнатову, зав. кафедрой ЭТ Ю.И. Волкова и зав. кафедрой РЭ А.В. Гуреева за неоценимую помощь и содействие в организации семинара.