Старая версия сайта доступна по ссылке http://old.miet.ru Перейти
  
  
  
  

26 марта состоится бесплатный семинар «Технологии National Instruments в учебном процессе, науке и промышленности»

http://img.en25.com/eloquaimages/clients/nationalinstruments/%7bf98041e3-415e-4f12-a427-542860a18ca4%7d_logo.gifhttp://img.en25.com/eloquaimages/clients/nationalinstruments/%7b54567d07-4c2b-472f-b842-7c6bbc27404f%7d_headline.jpg

Уважаемые коллеги,

Компания National Instruments совместно с Московским Институтом Электронной Техники (МИЭТ)приглашает Вас принять участие в бесплатном семинаре «Технологии National Instruments в учебном процессе, науке и промышленности».

Время и место проведения: 26марта 2009, МИЭТ, Зеленоград, проезд 4806, д.5., аудитория 1201. Начало регистрации участников в 13.30. Начало семинара в 14.30

Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации. Зарегистрироваться на семинар можно онлайн или отправив заполненную регистрационную форму по почте info.russia@ni.com или факсу (495) 783-6852.

PXI_russia

Программа семинара

1. Открытие семинара, вступительное слово проректора по учебной работе МИЭТ Игнатовой И.Г.

2. Работа Центра Технологий NationalInstrumentsв МИЭТ

· Реализация учебных и исследовательских лабораторий на базе МИЭТ;

· Программы переподготовки кадров – обучение специалистов с предприятий;

· Проведение совместных НИР и ОКР с предприятиям;

3. Технологии National Instruments в учебном процессе, науке и промышленности

· Обзор требований, предъявляемых к современным учебным и промышленным стендам в микро- и радиоэлектронике;

· Обучение студентов новейшим технологиям, востребованным в современной науке и промышленности;

· Модернизация научных лабораторий и учебных практикумов;

· Выбор аппаратно-программной платформы National Instruments для создания учебно-инновационных лабораторий

4. Модульные приборы PXI – автоматизированные стенды для изучения и тестирования аналого-цифровой электроники и радиотехники

· Автомтаизированные учебные и промышленные стенды на базе модульных приборов National Instruments;

· NI LabVIEW – среда графической разработки приложений для управления приборами;

· Новейшее оборудование National Instruments для аналого-цифровой электроники:

o Осциллографы, генераторы, мультиметры, источники питания, ВЧ оборудование, счетчики/таймеры, коммутаторы;

· Примеры разработки автоматизированных тестовых и измерительных стендов для микроэлектроники и радиотехники:

o Микроэлектроника и электротехника - тестирование микросхем (логические схемы, аналоговая электроника, АЦП/ЦАП);

o Телекоммуникации и связь (радио, GSM, WiMAX, RFID, и др.);

o Космическая связь (GPS, ГЛОНАСС, Цифровое телевидение);

o Приборостроение;

5. Особенности реализации автоматизированных тестовых систем в радиоэлектронной промышленности

· Обзор требований, предъявляемых к современным тестовым системам;

· Типы тестовых систем для промышленности:

o Автоматизированное рабочее место монтажника РЭА;

o Автоматизированные тестовые системы на производстве;

o Автоматизированные диагностические комплексы конечных изделий;

6. Системы управления, мехатроника и робототехника

· Платформа NI RIO - применение ПЛИС для разработки робототехнических комплексов и систем управления;

· Учебные стенды и системы по робототехнике и мехатронике:

o Промышленные роботы;

o Высокоскоростные системы управления (инвертивный маятник, привод, и т.п.)

· Разработка высокоскоростных имитаторов для наладки систем управления;

7. Научно-образовательные центры (НОЦ) – интеграция ВУЗов и промышленности

· Направление «Микро- и радиоэлектроника»:

· Направление «Робототехника и мехатроника»:

· Направление «Экология и энергетика»

· Направление «Перспективные научные исследования»

Russia_09_PXI_Seminar header_electronics_2

8. Опыт внедрения технологий NI в учебном процессе, науке и промышленности:

· Выступления сотрудников МИЭТ о работе Центра Технологий National Instruments при МИЭТ

· Посещение учебных лабораторий Центра Технологий National Instruments при МИЭТ

· Выступления представителей НИИ и предприятий г. Зеленоград об опыте внедрения технологий National Instruments;

Участники:

  • Кафедры Электротехники, Радиоэлектроники, Микроэлектроники, Вычислительной техники МИЭТ
  • National Instruments Россия, СНГ и Балтия
  • Предприятия электронной промышленности Московской области

По окончании семинара вы сможете записаться на курсы повышения квалификации по изучению NI Multisim, NI LabVIEW и аппаратных средств National Instruments, проводимые в МИЭТ.

Подробную программу семинара и регистрационную форму можно найти на этой странице.

Все участники семинара должны иметь с собой паспорт для прохода на территорию МИЭТ.

Приемная комиссия +7 499 734-02-42 abit@miee.ru
Контакты для прессы +7 499 720-87-27 mc@miee.ru