31 марта состоится семинар по атомно-силовой микроскопии и оптической профилометрии

31 марта состоится семинар по атомно-силовой микроскопии и оптической профилометрии

Семинар по атомно-силовой микроскопии и оптической профилометрии проведет эксперт отдела метрологии поверхности ООО «ОПТЭК» Денис Фокин.

Программа семинара:

1. Методы атомно-силовой микроскопии для неразрушающего исследования наномеханических свойств поверхности.

2. Новое поколение оптических профилометров Contour Elite: превосходя дифракционный предел.

Дата и время проведения: 31 марта, начало в 10:30.

Место проведения: Особая экономическая зона, каб.167а. Встреча участников на проходной в 10:15.

Участникам семинара рекомендуется заблаговременно связаться с организаторами по телефону 8(963)604-71-82 или по почте dedkova@unicm.ru.

Приемная комиссия 8 800 600-56-89 abit@miee.ru
Контакты для прессы +7 499 720-87-27 mc@miee.ru