Приглашаем на курс «Основы тестирования цифровых интегральных микро-схем»

Современные цифровые интегральные схемы и системы-на-кристалле (СнК) становятся всё сложнее, и одновременно растут требования к их надёжности и отсутствию брака. Как правило, дефекты в чипах стремятся выявлять на более ранних этапах разработки и производства электронной продукции. Если в дальнейшем некачественные микросхемы всё-таки попадают в готовые изделия, то «цена ошибки» возрастает многократно.

Проверить качество микросхем вручную просто невозможно — это долго и не гарантирует требуемого качества. Решение — системный подход к тестированию и использование современных систем автоматизированного тестирования (ATE).

Автоматическое тестирование – один из ключевых этапов жизненного цикла любой промышленной микросхемы. С этим процессом старшекурсники нашего университета могут познакомиться на курсе «Основы тестирования цифровых интегральных микросхем».

В рамках курса каждый студент сможет:

• понять физические основы возникновения дефектов и методы их выявления;

• разобраться в архитектуре автоматического тестового оборудования и вспомогательных систем;

• изучить методы тестирования цифровых устройств;

• познакомиться с принципами использования DFT-структур при тестировании;

• узнать особенности тестирования памяти и аналоговых микросхем;

• получить опыт разработки тестовых программ, а также анализа результатов тестирования.

Чем еще полезен курс?

Материалы курса основаны на реальных отраслевых примерах и будут полезны всем, кто планирует карьеру в области тестирования и производства микроэлектроники — от инженеров-тестировщиков до специалистов по цифровому проектированию и DFT-инженеров.

По окончании обучения выдаётся удостоверение о повышении квалификации.

Требования к участникам:

- студенты 3-го курса и старше технических направлений (электроника, информатика), включая магистратуру;

- базовые знания цифровой электроники и архитектуры вычислительных систем.

Дополнительно приветствуется опыт работы с измерительным оборудованием и представление о технологическом цикле изготовления полупроводниковых изделий.

Как будет проходить обучение:

Обучение будет проводиться в МИЭТ в вечернее время. Объём программы — 140 академических часов.

Поддержка от индустриального партнера:

Учебная программа разработана в кооперации с высокотехнологичным предприятием «Совтест АТЕ» — лидером в области разработки и производства сложного тестового и испытательного оборудования. За 34 года успешной работы предприятием накоплен огромный опыт по тестированию различных цифровых устройств, включая ИМС. Большая его часть была использована при подготовке программы и теперь эта уникальные компетенции впервые станут доступны слушателям данного учебного курса.

Для отработки всех практических навыков тестирования ИМС предприятие «Совтест АТЕ» предоставило для ПИШ МИЭТ свой новейший измерительный стенд для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17DT-400. Это современная универсальная контрольно-измерительная система российской разработки. Она внесена в Государственный реестр средств измерений под № 90685-23 и обладает передовыми техническими характеристиками.

Готов сделать первый шаг к востребованной профессии?

Регистрация на курс для студентов МИЭТ доступна по ссылке.

Узнать больше и задать вопросы можно, написав на почту korshunov@org.miet.ru

Ждём вас в числе слушателей курса!