Содержание курса

Цель программы — формирование у слушателей профессиональных компетенций, необходимых для выполнения профессиональной деятельности в области ионно- и электронно-лучевых методов диагностики наноструктур и нанообъектов.

Программа включает в себя 4 модуля:
Первые два модуля посвящены диагностике микро- и наноструктур 
— с применением ионно-лучевых методов;
— методами растровой электронной микроскопии.
Третий модуль направлен на изучение основных методов цифровой обработки изображений растровой электронной микроскопии. Теоретические модули изучаются заочно с применением он-лайн технологий.
Четвертый модуль – очная практика.

Отличительной особенностью данной программы является сочетание теоретического обучения с возможностью практической деятельности с использованием комплекса современного оборудования, электронно-ионного растрового микроскопа HeliosNanoLab 650, электронного растрового микроскопа PhilipsXL 40. 

Занятия проводят высококвалифицированные преподаватели Института физики и прикладной математики и научные сотрудники лаборатории электронной микроскопии.

Занятия проводятся в случае набора группы не менее 8 слушателей.

Выдаваемый документ

Диплом о переподготовке

Форма обучения

• Очно-заочная