Старая версия сайта доступна по ссылке http://old.miet.ru Перейти
Срок обучения 72 ч.
Стоимость обучения 25000 ₽
Приемная комиссия +7 499 734-02-42
Контакты для прессы +7 499 720-87-27

Электронно-микроскопическая диагностика полупроводниковых структур

Запись на программу
* Поля обязательные для заполнения

Программа знакомит с современными электронно-микроскопическими методами
исследования и диагностики полупроводниковых микро- и наноструктур, структур
СБИС с топологическими нормами нанометрового диапазона.

Содержание курса

Краткое описание программы:  Цель Программа ПК направлена на: Совершенствование и (или) получение новой компетенции «Способность осуществлять диагностику полупроводниковых микро- и наноструктур, нанообъектов электронно-микроскопическими методами», необходимой для профессиональной деятельности. Структура программы Разделы (модули) программы: - Диагностика наноразмерных структур методами растровой электронной микроскопии; - Анализ и препарирование наноструктур фокусированным ионным пучком; - Диагностика наноразмерных структур методами просвечивающей электронной микроскопии. Итоговая аттестация: - зачет.  Используемое оборудование: - Электронно-ионный растровой микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI, США); - Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis; - Линия для приготовления электронно-микроскопических образцов.

Выдаваемый документ

Удостоверение о повышении квалификации

Форма обучения

  • Очная