Научно-исследовательская лаборатория «Исследование изделий нано- и микросистемной техники» (НИЛ ИИ)
Магнитооптические измерения
Метод Керра позволяет быстро измерять значения магнитооптических характеристик (Hc, Hs, Hn, S) пленок. Оптическая система позволяет получать изображения доменной структуры образца.
Доменная структура и петля перемагничивания
Установка магнитооптических параметров методом Керра BH-PI7892V
Установка позволяет получать информацию о магнитооптических характеристиках пленок и визуализировать доменную структуру образца.
Установка магнитооптических параметров методом Керра BH-PI7892V
Технические характеристики:
- чувствительность: 0,001 градус;
- размер пятна: не более 3 мкм;
- прикладываемое поле: не более 1.5 Т;
- размер образца: не более 10×10 мм.
Возможности:
- измерение магнитооптических характеристик (Hc, Hs, Hn, S);
- построение кривой перемагничивания;
- визуализация доменной структуры.