Старая версия сайта доступна по ссылке http://old.miet.ru Перейти

Научно-исследовательская лаборатория «Исследование изделий нано- и микросистемной техники» (НИЛ ИИ)

Начальник: к.ф.-м.н. Демин Глеб Дмитриевич
Телефон:(499) 720-69-07

Магнитооптические измерения

Метод Керра позволяет быстро измерять значения магнитооптических характеристик (Hc, Hs, Hn, S) пленок. Оптическая система позволяет получать изображения доменной структуры образца.


Доменная структура и петля перемагничивания

Доменная структура и петля перемагничивания


Установка магнитооптических параметров методом Керра BH-PI7892V

Установка позволяет получать информацию о магнитооптических характеристиках пленок и визуализировать доменную структуру образца.


магнитооптическая установка Керра

Установка магнитооптических параметров методом Керра BH-PI7892V

Технические характеристики:

Возможности: