Студенты Института СПИНТех разработали алгоритм поиска брака в микросхемах
28 декабря в ЦКБ «Дейтон» студенческий коллектив Института СПИНТех в составе магистрантов Александра Тегина и Алины Мариной под руководством к.т.н., доцента Юлии Шевниной успешно представил программный модуль обнаружения дефектов интегральных микросхем (ИМС) для технической системы выходного контроля качества выпускаемой продукции. Программный модуль реализует алгоритм, распознающий все существующие виды брака в имеющихся в ЦКБ микросхемах, в связи с чем передан для прохождения испытаний на реальной производственной линии одного из предприятий микроэлектроники.
Как отмечает Юрий Рубцов, генеральный директор АО «ЦКБ «Дейтон»: «Разработанный программный модуль имеет важное практическое значение для всех предприятий микроэлектроники. Его использование в технических системах выходного контроля качества позволит существенно повысить выход годных изделий, снизить влияние человеческого фактора при проверке продукции, а также накопить данные для дальнейшего анализа причин возникновения брака». Юрий Васильевич отметил профессионализм коллектива СПИНТех, выразил желание долговременного и плодотворного сотрудничества при решении стратегически важных задач, связанных с автоматизацией и управлением производства и импортозамещением, после чего поставил коллективу задачу создать отечественное программное обеспечение для ряда других актуальных проблем в этой области. Работа научного коллектива отмечена благодарностью АО «ЦКБ «Дейтон» за высокий профессионализм, соблюдение оговоренных сроков и высокое качество результата.
По словам директора СПИНТех Ларисы Геннадьевны Гагариной, в январе намечается не только продолжение сотрудничества, но и расширение коллектива, так как предприятию кроме импортозамещения существующего программного обеспечения, необходима оцифровка существующей еще с советских времен документации ЭКБ, создание единой базы данных и системы управления базой данных. Дорожная карта этого масштабного проекта уже составлена.
