Сведения о наличии оборудованных учебных кабинетов, объектов для проведения практических занятий, в том числе приспособленных для использования инвалидами и лицами с ограниченными возможностями здоровья
Код направления подготовки: 28.04.03
Наименование образовательной программы: Инжиниринг наноматериалов для сенсорики
№ | Наименование дисциплины (модуля) в соответствии с учебным планом | Наименование специальных помещений и помещений для самостоятельной работы | Оснащенность специальных помещений и помещений для самостоятельной работы | Приспособленность помещений для использования инвалидами и лицами с ограниченными возможностями здоровья |
---|---|---|---|---|
1 | Корпоративная культура | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3104 мм) |
Монитор Samsung 971P, Проектор Sanyo PLC-XT25, Экран Mediavisor, Клавиатура Logitech Y-RZ42, Мышь Logitech M-RBA97, Радиосистема Audio-Technica ATW-R700, Акустика JVC CA-D701T |
оборудование для лиц с нарушением зрения, оборудование для лиц с нарушением слуха |
2 | Актуальные проблемы современной электроники и наноэлектроники | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
3 | Химические сенсоры | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
4 | Пористые наноструктурированные материалы | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
5 | Современные методы исследования материалов электронной техники | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
6 | Функциональные тонкие пленки и наноструктуры в сенсорике | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
7 | Системная среда качества | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3104 мм) |
Монитор Samsung 971P, Проектор Sanyo PLC-XT25, Экран Mediavisor, Клавиатура Logitech Y-RZ42, Мышь Logitech M-RBA97, Радиосистема Audio-Technica ATW-R700, Акустика JVC CA-D701T |
оборудование для лиц с нарушением зрения, оборудование для лиц с нарушением слуха |
8 | Проектный менеджмент | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3104 мм) |
Монитор Samsung 971P, Проектор Sanyo PLC-XT25, Экран Mediavisor, Клавиатура Logitech Y-RZ42, Мышь Logitech M-RBA97, Радиосистема Audio-Technica ATW-R700, Акустика JVC CA-D701T |
оборудование для лиц с нарушением зрения, оборудование для лиц с нарушением слуха |
9 | Термометрия. Методы и средства регулирования температуры | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
10 | Основы технологии одномерных структур | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
11 | Основы технологии создания наноструктурированных материалов для электронных и оптоэлектронных приборов | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
12 | Физика и технология фотоэлектрических преобразователей энергии | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
13 | Гибридные нанокомпозиты в нанотехнологии | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
14 | Электрохимические методы в нанотехнологии | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
15 | Самоорганизация и самоформирование в технологии наноструктур | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
№ | Наименование дисциплины (модуля) , в рамках которой осуществляются практические занятия в соответствии с учебным планом | Наименование специальных помещений и помещений для самостоятельной работы | Оснащенность специальных помещений и помещений для самостоятельной работы | Приспособленность помещений для использования инвалидами и лицами с ограниченными возможностями здоровья |
---|---|---|---|---|
1 | Корпоративная культура | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3112 мм) |
Монитор Iiyama PLB1906S-B1, Телевизор LG 55LV770S-ZA, Клавиатура Logitech Deluxe 250, Мышь Logitech B100, Шкаф телекоммуникационный напольный ЦМО ШТК-М-18.6.6 |
оборудование для лиц с нарушением зрения |
2 | Основы технологии интегральных электронных приборов на гибких подложках | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
Лаборатория тонкопленочных технологий(4.-4309) |
вакуумная установка термического испарения УРМ-3279011; вакуумная установка магнетронного напыления УВМ-026; вакуумная установка ионно-плазменного нанесения УРМ-3279014 |
Не приспособлена |
||
3 | Актуальные проблемы современной электроники и наноэлектроники | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
4 | Пористые наноструктурированные материалы | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
5 | Основы технологии интегральных электронных приборов на гибких подложках | Лаборатория функциональных наноматериалов(4.-4349) |
- малогабаритная вакуумная установка термического испарения МВУ ТМ ТИС; - малогабаритная вакуумная установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна; - малогабаритная вакуумная установка реактивно-ионного травления МВУ ТМ РИТ; -установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA.
|
нет |
6 | Химические сенсоры | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
7 | Иностранный язык для профессиональной коммуникации | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3112 мм) |
Монитор Iiyama PLB1906S-B1, Телевизор LG 55LV770S-ZA, Клавиатура Logitech Deluxe 250, Мышь Logitech B100, Шкаф телекоммуникационный напольный ЦМО ШТК-М-18.6.6 |
оборудование для лиц с нарушением зрения |
8 | Компьютерные технологии в научных исследованиях | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
9 | Современные методы исследования материалов электронной техники | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
10 | Функциональные тонкие пленки и наноструктуры в сенсорике | Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |
11 | Системная среда качества | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3112 мм) |
Монитор Iiyama PLB1906S-B1, Телевизор LG 55LV770S-ZA, Клавиатура Logitech Deluxe 250, Мышь Logitech B100, Шкаф телекоммуникационный напольный ЦМО ШТК-М-18.6.6 |
оборудование для лиц с нарушением зрения |
12 | Проектный менеджмент | Лекционная аудитория / Аудитория для проведения семинарских, практических занятий / Аудитория для защиты практик / Аудитория для проведения ГИА (3.-3112 мм) |
Монитор Iiyama PLB1906S-B1, Телевизор LG 55LV770S-ZA, Клавиатура Logitech Deluxe 250, Мышь Logitech B100, Шкаф телекоммуникационный напольный ЦМО ШТК-М-18.6.6 |
оборудование для лиц с нарушением зрения |
13 | Термометрия. Методы и средства регулирования температуры | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
14 | Учебная практика - практика по получению первичных профессиональных умений и навыков | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
||
Лаборатория тонкопленочных технологий(4.-4309) |
вакуумная установка термического испарения УРМ-3279011; вакуумная установка магнетронного напыления УВМ-026; вакуумная установка ионно-плазменного нанесения УРМ-3279014 |
Не приспособлена |
||
Лаборатория функциональных наноматериалов(4.-4349) |
- малогабаритная вакуумная установка термического испарения МВУ ТМ ТИС; - малогабаритная вакуумная установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна; - малогабаритная вакуумная установка реактивно-ионного травления МВУ ТМ РИТ; -установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA.
|
нет |
||
Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |
||
15 | Основы технологии одномерных структур | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
16 | Основы технологии создания наноструктурированных материалов для электронных и оптоэлектронных приборов | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
17 | Проектирование сенсорных систем | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
||
Лаборатория тонкопленочных технологий(4.-4309) |
вакуумная установка термического испарения УРМ-3279011; вакуумная установка магнетронного напыления УВМ-026; вакуумная установка ионно-плазменного нанесения УРМ-3279014 |
Не приспособлена |
||
Лаборатория функциональных наноматериалов(4.-4349) |
- малогабаритная вакуумная установка термического испарения МВУ ТМ ТИС; - малогабаритная вакуумная установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна; - малогабаритная вакуумная установка реактивно-ионного травления МВУ ТМ РИТ; -установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA.
|
нет |
||
Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |
||
18 | Физика и технология фотоэлектрических преобразователей энергии | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
19 | Гибридные нанокомпозиты в нанотехнологии | ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
20 | Электрохимические методы в нанотехнологии | Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |
21 | Самоорганизация и самоформирование в технологии наноструктур | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
22 | Производственная практика - педагогическая практика | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
||
Лаборатория тонкопленочных технологий(4.-4309) |
вакуумная установка термического испарения УРМ-3279011; вакуумная установка магнетронного напыления УВМ-026; вакуумная установка ионно-плазменного нанесения УРМ-3279014 |
Не приспособлена |
||
Лаборатория функциональных наноматериалов(4.-4349) |
- малогабаритная вакуумная установка термического испарения МВУ ТМ ТИС; - малогабаритная вакуумная установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна; - малогабаритная вакуумная установка реактивно-ионного травления МВУ ТМ РИТ; -установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA.
|
нет |
||
Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |
||
23 | Производственная практика - научно-исследовательская работа | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
||
Лаборатория тонкопленочных технологий(4.-4309) |
вакуумная установка термического испарения УРМ-3279011; вакуумная установка магнетронного напыления УВМ-026; вакуумная установка ионно-плазменного нанесения УРМ-3279014 |
Не приспособлена |
||
Лаборатория функциональных наноматериалов(4.-4349) |
- малогабаритная вакуумная установка термического испарения МВУ ТМ ТИС; - малогабаритная вакуумная установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна; - малогабаритная вакуумная установка реактивно-ионного травления МВУ ТМ РИТ; -установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA.
|
нет |
||
Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |
||
24 | Производственная практика - преддипломная практика | ЛП по материаловедению(4.-4136) |
Компьютер с ПО и возможностью подключения к сети Интернет и обеспечением доступа в электронную информационно-образовательную среду МИЭТ, беспроводная клавиатура + мышь , проектор, микроскопы: фазоконтрастный - Neophot-2, интерференционноконтрастный – МИИ-4, металлографический – МИМ-7, поляризационный – МП-2, люминесцентный – МЛ-2, инфракрасный – МИК-4. ИК Фурье – спектрометр ФСМ1201, микроскопы: МИИ4-М, микроскопы металлографические « МЕТАМ РВ21-1», инвертируемый микроскоп «Axiovert 40 MAT» |
нет |
ЛП по материалам электронной техники(4.-4139) |
Компьютер, проектор, лабораторные стенды: - Определения удельного сопротивления материалов - Исследование температурной зависимости электропроводности материалов - Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках - Исследование термоэлектрических явлений в материалах, используемых в электронной техники - Исследование температурной зависимости теплопроводности материалов, используемых в электронной технике - определение толщины тонких пленок и глубины залегания p-n перехода методом сферического шлифа |
нет |
||
Лаборатория тонкопленочных технологий(4.-4309) |
вакуумная установка термического испарения УРМ-3279011; вакуумная установка магнетронного напыления УВМ-026; вакуумная установка ионно-плазменного нанесения УРМ-3279014 |
Не приспособлена |
||
Лаборатория функциональных наноматериалов(4.-4349) |
- малогабаритная вакуумная установка термического испарения МВУ ТМ ТИС; - малогабаритная вакуумная установка магнетронного напыления МВУ ТМ Магна; - малогабаритная вакуумная установка реактивно-ионного травления МВУ ТМ РИТ; -установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA.
|
нет |
||
Лаборатория Технологий наноматериалов(4.-4315) |
Компьютеры, установка осаждения нитевидных нанокристаллов и углеродных нанотрубок, FirstNano Inc. USA, термостабилизированная электрохимическая ячейка, электрохимический комплекс НАНО-ХТ-1, генератор сигналов специальной формы Г6-28, установка для получения полупроводниковых материалов методами сверхбыстрой кристаллизации, комплект оборудования для э/х формирования наноматериалов, AMMT GmbH Germany, автоматизированный комплекс нанесения материалов атомно-слоевым осаждения, KSV Dip Coater, вытяжные шкафы – 3 шт |
нет |