Содержание курса

Данная программа повышения квалификации предназначена для начинающих  специалистов, занимающихся проектированием, верификацией и производством современных систем-на-кристалле (СнК). Курс построен на комплексном подходе, охватывающем весь жизненный цикл изделия: от выбора стратегии тестирования на этапе проектирования до анализа результатов производственных испытаний. Участники последовательно изучат ключевые методы тестопригодного проектирования (DFT), принципы построения тестовых структур и практические аспекты их использования на автоматизированных тестовых оборудованиях (ATE).

В ходе курса слушатели детально разберут архитектуру и принципы работы таких DFT-структур, как сканирующие цепи и  аппаратные средства отладки (JTAG, IEEE 1149.1/7.1). Также рассмотрят методы тестирования аналоговых и смешанных сигнальных блоков.

Особенность курса – его практико-ориентированность и логичная структура: материалы выстроены от фундаментальных основ моделирования неисправностей к проектированию полноценной тестовой среды и интерпретации реальных результатов. Программа основана на лучших практиках, применяемых в ведущих полупроводниковых компаниях, и использует современный инструментарий промышленных САПР. Такой подход позволяет участникам получить ценный опыт, непосредственно применимый в реальных проектах, и глубоко понять взаимосвязь между проектированием, тестированием и выходом годной продукции.

Целевая аудитория

Программа адресована начинающим инженерам-схемотехникам, специалистам по верификации, тест-инженерам. Курс будет полезен как опытным разработчикам в смежных областях, которые хотят систематизировать и углубить свои знания в области DFT и тестирования, так и начинающим специалистам, планирующим построить карьеру в этой востребованной области.

Что получит слушатель по результатам обучения

В результате обучения участники приобретут следующие компетенции:

· Понимание принципов испытаний СнК: Знание моделей дефектов (stuck-at, transition, path-delay и др.), методов их детектирования и метрик оценки качества тестов.

· Практические навыки тестопригодного проектирования: Умение применять ключевые DFT-методики, включая вставку сканирующих цепей, построение, использование JTAG для тестирования и отладки.

· Опыт работы с полным циклом тестирования: Понимание процесса генерации тестовых векторов, их симуляции на этапе проектирования и применения на автоматизированном тестовом оборудовании (ATE) для производственного тестирования.

· Готовые решения для внедрения: Комплексное представление о том, как интегрировать процессы DFT и тестирования в существующие циклы разработки цифровых и смешанных ИС.

Ожидаемый опыт слушателей

Для успешного освоения программы у слушателей должны быть базовые знания в области цифровой схемотехники и архитектуры вычислительных систем, а также понимание основ проектирования интегральных схем. Желателен (но не обязателен) начальный опыт работы с языками описания аппаратуры (Verilog, VHDL) и средствами проектирования. Знания в области производства полупроводниковой продукции будут преимуществом.

Длительность

116 академических часов (включая лекции, лабораторные занятия и самостоятельную работу).

Выдаваемый документ

Удостоверение о повышении квалификации

Форма обучения

• Очная